摘要通用型白度計(jì) 微電腦白度計(jì) 全自動校正白度儀型號：JC07- WSB-3 用途概述 Summary of functions主要適用于非彩色表面平整的物體或粉末的白度測量，可以準(zhǔn)確地得出與視感度相*的白度值。對于經(jīng)熒光增白劑處理過的物體，可以定量反映熒光增光后的白...

摘要 本儀器可在實(shí)驗(yàn)室、車間及現(xiàn)場測量直流電壓，也可經(jīng)轉(zhuǎn)換后測量直流電阻、電流、電功率及溫度等；可以校驗(yàn)一般電壓信號，如熱電偶信號也可通過轉(zhuǎn)換開關(guān)，經(jīng)轉(zhuǎn)換后可作電壓信號輸出，對電子電位差計(jì)毫伏表等以電壓做測量對象的工業(yè)儀表進(jìn)行校驗(yàn)。

摘要安規(guī)測試儀 GPT-9803，三合一（交直流耐壓 + 絕緣電阻），AC200VA，AC5kV/40mA，DC6kV/10mA，絕緣電阻 9.5GΩ，支持 100 組程序存儲，標(biāo)配 USB、RS232、Signal I/O，GPIB 選配，330×150...

摘要小門衛(wèi)立式崗前酒檢考勤一體機(jī)，集成人臉識別、酒精檢測、出入管控、考勤管理，適合礦山、工地、工廠、公交等高風(fēng)險(xiǎn)場景。搭載雙目活體人臉核驗(yàn)，同步呼氣酒檢，防范代吹代打卡，酒精超標(biāo)聲光告警?？蓴U(kuò)展血壓、血氧、體溫外設(shè)，一站式完成崗前健康篩查。設(shè)備支持離線運(yùn)行，斷網(wǎng)也能檢測，...

摘要 DYR系列卡裝溫度變送器

摘要 DYC系列卡裝雙路信號差值調(diào)理器

摘要 DYC系列卡裝單路信號調(diào)理器

摘要 DYC系列卡裝雙路信號調(diào)理器

摘要1.很強(qiáng)的抗雜訊干擾功能 2.機(jī)型尺寸：72H X 72W , 48H X 96W 3.使用觸控按鍵設(shè)定儀表參數(shù)值 4.可選頻率功能，轉(zhuǎn)速功能，線速功能 5.比率P設(shè)定范圍：0.00001~999999 6.兩段上下限設(shè)定及輸出警報(bào)（繼電器或電晶體） 7.測量范圍：0...

摘要 GDS-70有源晶振測試裝置集成了頻率測量、阻抗分析和功耗檢測功能，適用于有源晶振的來料檢驗(yàn)和可靠性測試，支持自動判定和分選。

摘要 GDS-70有源晶振頻率計(jì)量儀采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)進(jìn)行頻率測量，可精確檢測有源晶振的輸出頻率和頻率穩(wěn)定度，適用于計(jì)量檢定和產(chǎn)線全檢場景。

摘要 GDS-70有源晶振測試校準(zhǔn)儀在測試校準(zhǔn)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振頻率校準(zhǔn)設(shè)備在頻率校準(zhǔn)設(shè)備方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶體振蕩器校準(zhǔn)儀在振蕩器校準(zhǔn)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振性能校準(zhǔn)儀在性能校準(zhǔn)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振參數(shù)校準(zhǔn)儀在參數(shù)校準(zhǔn)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振頻率校準(zhǔn)儀在頻率校準(zhǔn)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振電氣測試裝置在電氣測試方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振特性分析儀在特性分析方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振品質(zhì)分析儀在品質(zhì)分析方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振諧振分析儀在諧振分析方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振阻抗分析儀在阻抗分析方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振頻率分析設(shè)備在頻率分析方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶體振蕩器檢測設(shè)備在參數(shù)分析方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振參數(shù)分析系統(tǒng)在分析系統(tǒng)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振分析系統(tǒng)在檢測系統(tǒng)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振檢測系統(tǒng)在測量系統(tǒng)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振測量系統(tǒng)在測試系統(tǒng)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振測試系統(tǒng)在振蕩器測量方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶體振蕩器測量儀在頻率測量方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶體頻率測量設(shè)備在老化特性方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振老化率儀在激勵(lì)功率方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振激勵(lì)功率儀在負(fù)載電容方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振負(fù)載電容儀在等效電阻方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振等效電阻儀在品質(zhì)因數(shù)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振品質(zhì)因數(shù)儀在電氣參數(shù)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振電氣參數(shù)儀在電參數(shù)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振電參數(shù)測試儀在軟件功能方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振頻率特性儀在通信接口方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振特性測試儀在數(shù)據(jù)管理方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振品質(zhì)測試儀在綜合校準(zhǔn)方面具有特色功能設(shè)計(jì)，覆蓋頻率測量、阻抗分析和溫度特性測試，適合有源晶振的參數(shù)評估和質(zhì)量管理場景。

摘要 GDS-70有源晶振諧振測試儀支持多通道并行測試，可同時(shí)連接4路被測器件，通過通道切換開關(guān)分時(shí)采集各通道信號，提升批量測試效率，適合產(chǎn)線全檢場景的多品種混線生產(chǎn)。

摘要 GDS-70有源晶振阻抗測試儀配備多種測試夾具，支持DIP-8、DIP-14、SMD-5032、SMD-3225等主流封裝的有源晶振測試，夾具采用低損耗設(shè)計(jì)方案，減少寄生參數(shù)對測量結(jié)果的影響。

摘要 GDS-70有源晶振頻率測量儀可測量有源晶振輸出信號的相位噪聲，支持偏移頻率1Hz至100kHz范圍的相位噪聲功率譜密度測量，適用于對時(shí)鐘信號純凈度要求高的射頻和數(shù)字通信場景。

摘要 GDS-70有源晶體振蕩器檢測儀提供負(fù)阻測試功能，通過逐步增大回路串聯(lián)電阻直至振蕩停止，測量晶振在工作電路中的負(fù)阻裕量，幫助評估晶振的起振可靠性和驅(qū)動電平裕度。