摘要 產(chǎn)品特點：1、可實現(xiàn)三維平移、一維旋轉、一維傾斜調(diào)整；2、水平平移（X、Y軸）和豎直升降（Z軸）：精密線性滑塊導軌導向，滾珠螺桿驅(qū)動，手動旋轉臺作為精調(diào)手輪，分辨率小于1μm；3、旋轉傾斜部分臺面大，精研絲杠調(diào)整，轉軸無間隙。

摘要 DNC-7P動態(tài)干涉儀產(chǎn)品型號：DNC-7P結構緊湊，重量輕35us數(shù)據(jù)采集時間2448*2048 Pixel,12bit優(yōu)秀的數(shù)據(jù)分析和可視化軟件有振動和氣流時進行不敏感的動態(tài)測量采用偏振原理同時采集四幅相移圖，因此對震動影響不敏感

摘要 D50中紅外干涉儀產(chǎn)品型號：D50紅外光學元件的表面面型測量

摘要 130mm紅外激光干涉儀產(chǎn)品型號：INF130-IR-LS635nm可見光共軸對準，操作方便工程化程度高，性能優(yōu)良，使用可靠

摘要 INF25-LP蓋板干涉儀產(chǎn)品型號：INF25-LP主要用于手機蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測試！

摘要 INF60-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF60-LP平面光學元件表面面型測量

摘要 INF150-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF150-LP平面光學元件的表面面型測量平面光學元件平行度測量

摘要 INF450-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號：INF450-LP-WM成像質(zhì)量良好，結構簡潔臥式結構，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)

摘要 INF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF150V-LPINF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀主要用于生產(chǎn)現(xiàn)場平面元件的數(shù)字化測量！

摘要 INF300V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF300V-LP測量光學平面面型精度測量光學元件的材料均勻性對干涉條紋進行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗報告

摘要 INF200V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF200V-LP中大口徑光學元件平面面型精度測量對干涉條紋進行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗報告

摘要 INF600-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF600-LP-WM雙端口檢測大口徑平面元件面型檢測光學材料均勻性測量元件面型分析，光學數(shù)據(jù)處理

摘要 INF300H-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF300H-LP-WM測量光學平面面型精度測量光學元件的材料均勻性對干涉條紋進行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗報告

摘要 INF800-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號：INF800-LP-WM成像質(zhì)量良好 臥式結構，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)

摘要SJ6000激光干涉儀檢測設備架設靈活，對各種復雜結構的機床、平臺和導軌都具有廣泛適用性，測量快速簡便，減少重復定位測量的時間，同時得到精確直觀的檢測數(shù)據(jù)。是高精度、高靈敏度測量儀器，廣泛應用于精密機械設備、精密檢測儀器、三坐標、機器人、3D打印設備、機床、自動化設備...

摘要 德國BMT WLIRing 干涉儀

摘要 簡介：激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今*的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 機床導軌線性測量、參數(shù)校正

摘要 一、概述本儀器應用光干涉原理、根據(jù)中華人民共和國煤炭行業(yè)標準MT28-2005《CJG-10型煤礦用光干涉式甲烷測定器》的標準制造的

摘要 一、概述本儀器應用光干涉原理、根據(jù)中華人民共和國煤炭行業(yè)標準MT28-2005《光干涉式甲烷測定器》及Q/ZADZ03-2005《CJG-100型煤礦用光干涉式甲烷測定器》的標準制造的

摘要一、產(chǎn)品描述PO系列機床測頭采用的3點觸發(fā)結構設計，在測頭的內(nèi)部有一個觸發(fā)機構，當測針受外力作用產(chǎn)生徑向或軸向移動時，觸發(fā)機構觸發(fā)，測頭內(nèi)部的電路向接收器發(fā)出觸發(fā)信號，接收器將信號傳送給數(shù)控機床，獲得機床各軸位置坐標，再根據(jù)不同測量點的數(shù)據(jù)，計算出需要測量結果。測頭的...

摘要雙向精密自準直儀，采用光學自準直原理和二維測量結構，能對機床，儀器精密導軌和精密平板的運動直線度和平直度，做水平、垂直二維方向的角、線性值精密測量。本儀器具有原理合理，結構簡單，體積小，精度高，使用方便，配以一定的附件后，能擴大使用范圍的特點。工作室應清潔，無振動，電...

摘要采用光學自準直原理、二維測量結構和精密電子技術，能對機床、儀器精密導軌和精密平板的運動直線度和平直度做水平、垂直二維方向的角、線性值的精密測試，工作效率優(yōu)于目前單向同類儀器以及雙向普通儀器。它依靠現(xiàn)代電子技術大大節(jié)省了計算時間，在測試時只需將數(shù)據(jù)直接采集，通過儀器自動...

摘要 移相干涉條紋分析軟件，實現(xiàn)數(shù)字化測量。

摘要G60UP激光平面干涉儀通光口徑為60mm ,鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能。G60DP激光平面干涉儀通光口徑為＜P60mm ,鏡頭下置，用于平面元件的低量快速檢測。主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、啕瓷等）表面面形、透過波前、光學平行度和材料均勻性的測試，...

摘要G30 G60 激光干涉儀通光口徑為30mm,60mm,儀器具備良好的隔振性能。用于平面檢測（透過、反射），標準鏡頭有F0.6, F0.7,F1.0, F1.4, F2.0, F2.8, F5.6,可定制其他F數(shù)的鏡頭；也可選配平面標準鏡及相關治具測量平面鏡。 ...

摘要G60UII正立式激光干涉儀通光口徑為60mm,鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能，適合光學車間現(xiàn)場的制程檢驗，拼盤檢驗，小批量多品種的光學鏡片檢驗。標準鏡頭有F0.6 , F0.7 , F1.0 , F1.4 , F1.5 , F2.0 , F2.8 , F3.3 ,...

摘要S100D倒置式激光干涉儀通光口徑為100mm ,鏡頭下置，儀器具備良好的隔振性能，適合車間大尺寸球面透鏡和平面鏡的大批量快速檢驗。標準鏡頭有F0.65 , F0.75 , F1.0 , F1.5 , F2.2 , F3.3 , F5.0 , F7.1, F10.7 ...

摘要立式激光平面干涉儀為正立式結構，通光口徑有200mm,150mm和100mm三種，適合平面元件的快速測試。 G200M,G150M和G100M專為計量和科研需求設計，適用于計量機構檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6倍圖像放大功能，高精度的成...

摘要在有些應用，根據(jù)樣品的形狀、裝夾方法、或者模擬樣品使用狀態(tài)下測量，正立式干涉儀結構相比臥式和倒立式更有優(yōu)勢。例如半球形球罩面形和曲率半徑的測量，正立式結構能夠?qū)崿F(xiàn)盤上測量以及下盤后的無夾持應力測量，而臥式結構無法夾持半球，倒立式結構測量盤上時需要支撐樣品和磨盤的重力，...

摘要 嚴格情況下，要求按照元件的使用狀態(tài)測量，例如很多窗口、反射鏡和半導體晶圓等。G400U和G300U的通光口徑分別為400mm和300mm。為鏡頭上置、光路向下的結構，適合對樣品的平放測量。

摘要大口徑激光干涉儀有效通光口徑有600mm, 450mm和300mm,均是雙路測量系統(tǒng)：一路是100mm （4英寸）或150mm（6英寸）小口徑測量系統(tǒng)，另一路是大口徑平面測量系統(tǒng)。小口徑系統(tǒng)可以進行平面元件和球面元件的測量。大口徑平面測量系統(tǒng)從100mm口徑擴束到60...

摘要 中國激光干涉儀SJ6000?采用氦氖激光器作為光源。其精度高，抗擾力強，空氣湍流、熱波動等影響甚微，因此降低了對環(huán)境條件的要求，使它不僅能用于實驗室，還可在車間條件下測量大距離用。具有測量精度高、測量范圍大、測量速度快、最高測速下分辨率高等優(yōu)點。

摘要 SJ6000便攜式激光干涉儀品牌可以進行動態(tài)高速測量，選配相應的功能模塊元件后還可以測量振動幅度、平面度、線速度、角速度等。是高精度、高靈敏度測量儀器，廣泛應用于精密機械設備、精密檢測儀器、三坐標、機器人、3D打印設備、機床、自動化設備、線性位移平臺等領域的線性測量。

摘要 sj6000激光干涉儀可同時測量出機床的螺距誤差值和反向間隙（又稱背隙），通過精度再校準，加工精度會大大提高。

摘要 SJ6000激光干涉儀精密測量儀器的測量軟件可以將線性測量結果生成的誤差補償表，精確的補償，可以有效地降低運動軸的位置誤差。

摘要 Ka波段微波干涉儀（常壓等離子體診斷）關鍵詞：AtmosphericPlasma,等離子體診斷、常壓等離子體、介電質(zhì)、放電應用：等離子體診斷

摘要 SJ6000國產(chǎn)激光干涉儀器結合不同的光學鏡組，可實現(xiàn)線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。

摘要簡單介紹： 干涉顯微鏡6JA是用來測量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測量零件表面刻線，鍍層等深度。干涉顯微鏡6JA配以各種附件，還能測量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面，同時...

摘要 SJ6000激光干涉測量儀在數(shù)控機床精度測量方面，豐富的模塊化組件可根據(jù)具體測量需求而選擇，結合不同的光學鏡組，可實現(xiàn)線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。是一種用傳統(tǒng)測量手段難以實現(xiàn)的技術。

摘要 中圖儀器激光干涉儀器設備采用氦氖激光器作為光源。其精度高，扛擾力強，降低了對環(huán)境條件的要求，空氣湍流、熱波動等影響甚微，因此使它不僅能用于實驗室，還可在車間條件下測量大距離用。

摘要 SJ6000機床校準激光干涉儀適用于各種復雜的運動系統(tǒng)，不僅僅局限于運動導軌，還可以檢測數(shù)控機床、三坐標測量機等精密運動設備其導軌的線性定位精度、重復定位精度等，以及導軌的俯仰角、扭擺角、直線度、垂直度等。

摘要 ZC1633型雙棱鏡干涉實驗儀(光干涉實驗儀)　　主要實驗內(nèi)容：　　1、觀察光的干涉現(xiàn)象，掌握一種分波前光路實驗雙光束干涉的方法;　　2、用雙棱鏡干涉測量光波波長;　　3、學會雙棱鏡干涉光路的共軸調(diào)節(jié)方法

摘要 儀器簡介：ML10Gold高性能激光干涉儀是機床、三坐標測量機及其它定位裝置精度校準用的高性能儀器

摘要 動態(tài)、超精密,嵌入式測量，專業(yè)用戶的選擇.ZD-D1500是國內(nèi)C9大學、北京合創(chuàng)智達光電科技有限公司聯(lián)合研發(fā)的新一代快速超精密激光干涉儀。