摘要 最近，德國LEICA推出了新一代薄膜測厚儀DRM1000以應(yīng)對微電子，半導體產(chǎn)業(yè)的新高潮

摘要 作為新能源制造精度的核心保障設(shè)備，SJ6000激光干涉儀檢測機床導軌位置偏差可捕捉機床導軌微小位置偏差，精準感知微米級誤差，測量距離80米，覆蓋大型龍門銑床、超長行程數(shù)控機床的校準需求。

摘要 Chotest SJ6000激光干涉儀

摘要 儀器簡介：電子散斑干涉(ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù),因其通用性強、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點，電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試

摘要 儀器簡介：光的干涉和衍射是重要的光學現(xiàn)象之一，本裝置將干涉實驗和衍射實驗集成為一個實驗裝置，既可以進行光的干涉實驗比如雙棱鏡干涉，楊氏雙縫干涉實驗等；又可以進行光的衍射實驗比如夫瑯禾費単縫衍射等

摘要儀器簡介：LYS-4A根據(jù)傳統(tǒng)的光的干涉衍射實驗設(shè)備的不足,研制出了新的光的干涉衍射實驗儀.按照實驗需要組合成相應(yīng)儀器.該實驗儀既可以用于光學演示實驗,也可以作為光學專用的實驗儀器干涉衍射實驗裝置將干涉實驗和衍射實驗集成為一個實驗裝置，既可以進行光的干涉實驗又可以進行...

摘要 儀器簡介：本款精密干涉儀可開展邁克耳遜干涉，法布里-珀涉，棱鏡干涉和透鏡干涉實驗

摘要 儀器簡介：采用平臺式設(shè)計，便于在光路中加入被研究物質(zhì)

摘要 儀器簡介：本試驗設(shè)備可以熟悉邁克爾遜干涉儀、馬赫--曾德爾干涉儀、薩格奈特干涉儀的知識點；通過實驗可以理解實驗原理，掌握干涉測量技術(shù)，通過此實驗系統(tǒng)進行線性膨脹系數(shù)測定實驗和壓電陶瓷的特性研究，此涉及這些知識點融合在一起，便于學習和通過實驗現(xiàn)象來橫向比較實驗原理

摘要產(chǎn)品介紹：北京波威提供的MINT是一個延遲線干涉儀(DLI)可以對輸入光信號和其延遲了1bit的信號進行干涉。MINT用于D(Q)PSK解調(diào)，在很多應(yīng)用中得以使用 。MINT可調(diào)，能夠精確匹配載波頻率?？梢垣@得兩種相位調(diào)節(jié)選項:一種是超快選項(U),具有非常低的調(diào)節(jié)時...

摘要產(chǎn)品介紹：北京波威提供的OPTIPHASE光纖干涉儀用于精密測試和測量儀器以及光纖傳感系統(tǒng)。產(chǎn)品由OPTIPHASE研發(fā)的PZ1低剖面光纖拉伸器驅(qū)動，通過一個前面板BNC連接器進行增強調(diào)制。邁克爾遜干涉儀和馬赫-曾德爾干涉儀的波長從1064納米到1550納米不等。每個...

摘要 LeicaDCM8白光共焦干涉顯微鏡

摘要 XD激光干涉儀1D激光主要可以測量定位誤差和重復(fù)定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最長的測量距離可到45米（80米可選）

摘要 激光干涉儀技術(shù)規(guī)格書隨著光通訊行業(yè)的飛速發(fā)展，特別是通訊行業(yè)手機、平板等對成像質(zhì)量要求的不斷提高，必須對手機面板攝像孔的光學玻璃的透射波前進行檢測和分析

摘要 產(chǎn)品介紹：平面度測量機，采用掠入射光干涉原理，專注于高精密加工表面平面度快速測量評估 , 廣泛應(yīng)用于半導體行業(yè)（ Wafers) 、 LCD 掩膜 (Photomask) 、玻璃 (Glass) 、泵、閥門密封件表面 (Sealing

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO白光干涉儀8200 NewView 8200系列的3D光學表面輪廓儀可以提供*的多功能的非接觸式光學表面形貌測量分析。所有的測量都無損、快速，并且不需要樣品制備。*的分析軟件可

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO白光干涉儀8300 NewView 8300系列的3D光學表面輪廓儀可以提供*的多功能的非接觸式光學表面形貌測量分析。所有的測量都無損、快速，并且不需要樣品制備。*的分析軟件可

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO激光干涉儀DynaFiz 新型的ZYGO DynaFiz激光干涉儀是特別設(shè)計為在有空氣湍流和振動的環(huán)境中進行精確的光學計量的優(yōu)化的光學儀器。DynaFiz 光學系統(tǒng)的長壽命，高功率氦氖激

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO激光干涉儀GPI XP/D GPI? XP/D激光干涉儀--運用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質(zhì)量，傳輸波前的測量和分析。GPI XP/D是ZYGO在中國甚至

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO激光干涉儀GPI XP/D GPI? XP/D激光干涉儀--運用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質(zhì)量，傳輸波前的測量和分析。GPI XP/D是ZYGO在中國甚至

摘要 產(chǎn)品介紹：菲索型激光干涉儀，具有的環(huán)形光源偽跡消除抑制技術(shù)，是一種高 精度、共光路面形計量干涉儀。ZYGO新一代激光干涉儀系列--VeriFire?激光干涉儀，繼承了工業(yè)標準GPI?激光干涉儀系

摘要 產(chǎn)品概述 該產(chǎn)品應(yīng)用光干涉原理，可迅速、準確的測定煤礦井下環(huán)境中的甲烷和二氧化碳有害氣體

摘要 產(chǎn)品說明：馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉

摘要 微奧MEMS微干涉模塊是利用MEMS微鏡設(shè)計的一款邁克爾遜干涉儀，可以實現(xiàn)各種光干涉

摘要 日本RIKEN(理研)FI-815A光波干涉式氣體偵測器 產(chǎn)品介紹：

摘要 該產(chǎn)品應(yīng)用光干涉原理，可迅速、準確的測定煤礦井下環(huán)境中的甲烷和二氧化碳有害氣體

摘要SWIM-1510MS干涉儀掃描白光干涉顯微儀產(chǎn)品特點及用途結(jié)合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優(yōu)點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特...

摘要 將共焦共焦原理和白光光譜干涉法結(jié)合使機構(gòu)震動對測量的結(jié)果不產(chǎn)生影像不需要垂直掃描達到亞納米級分辨率，最小可測厚度 0.4 μm的透明體厚度傳感器自身原理可達納米級分辨率共焦可以保證點與點之間不出在相互干擾超高測量精度，厚度測量時達到0.3nm分辨率,10nm 測量精度

摘要 產(chǎn)品概述 該產(chǎn)品應(yīng)用光干涉原理，可迅速、準確的測定煤礦井下環(huán)境中的甲烷和二氧化碳有害氣體

摘要項目技術(shù)參數(shù) 測量范圍（0.0~10.0）%+-3%CH4 分劃板分辨率 0.5%CH4 刻度盤分辨率 0.02%CH4 燈泡電壓/電流 1.5v/0.3A 電池型號 R20 防爆型式 Exibl 外形尺寸 225*135*70mm 重量 1.8kg 安全標志證號 ...

摘要 產(chǎn)品概述該產(chǎn)品應(yīng)用光干涉原理，可迅速、準確的測定煤礦井下環(huán)境中的甲烷和二氧化碳有害氣體

摘要 簡要描述：激光干涉儀手機面板攝像孔透射波前檢測

摘要 XD Laser激光干 涉儀是API公司的產(chǎn)品。-次安裝即可以測得6個參數(shù)，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差和3個角度誤差。通常時間需數(shù)天進行的測試，使用AP|激光干涉儀只需幾個小時即可完成。實際應(yīng)用結(jié)果表明:可節(jié)省時間高達80%。

摘要 儀器名稱：激光干涉儀品牌:雷尼紹型號：ML10Gold產(chǎn)地：英國儀器介紹：1.ML10Gold高性能激光干涉儀是機床、三坐標測量機及其它定位裝置精度校準用的高性能儀器

摘要 在實際工業(yè)現(xiàn)場，除了常規(guī)的X/Y/Z軸測量，往往還會遇到各種棘手的特殊結(jié)構(gòu)。激光干涉儀校準回轉(zhuǎn)軸與五軸機床通過專業(yè)的附件與算法，為您提供針對性的解決方案。

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今*的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。　　SJ6000激光干涉儀集光、機、電、計算機等技術(shù)于一體，產(chǎn)品采用進口高性能氦氖激光器，其壽命可達50000小時；采用激光雙縱模熱...

摘要 導電料子顯微鏡/微分干涉顯微鏡

摘要 HL200導電粒子檢查顯微鏡.微分干涉

摘要 *便宜微分干涉導電粒子檢查顯微鏡

摘要 LCD COG導電粒子壓痕 粒子爆破檢測顯微鏡 微分干涉顯微鏡

摘要 產(chǎn)品參數(shù)：XL80高性能鐳射干涉儀是機床、三次元坐標量床及其它定位裝置精度校準用的高性能儀器,由于電子技術(shù)的應(yīng)用,使其鐳射波長非常穩(wěn)定并保持了低成本高效率的工作流程

摘要 雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測試。適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動的系統(tǒng)用于8"晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關(guān)性能的測試。大量樣品測試的重復(fù)精度可達2%以上。

摘要 產(chǎn)品技術(shù)指標Hi-Smarc-Ⅲ-PO激光干涉儀主要功能：測量平面光學元件的表面面形和透射光學元件的綜合波前a)類型：菲索干涉原理b)口徑：φ25.4mmc)顯示方式：CCD+顯示器d)光源：半導體激光

摘要 【產(chǎn)品名稱】：英國雷尼紹XL-80激光干涉儀【產(chǎn)品規(guī)格】：英國雷尼紹XL-80激光干涉儀【詳細內(nèi)容】XL-80主要優(yōu)點雷尼紹設(shè)計、制造和提供激光系統(tǒng)已有近二十年的歷史

摘要 光干涉甲烷檢測儀