摘要 TOPOS激光干涉平面度快速測(cè)量機(jī)TOPOS激光干涉平面度快速測(cè)量機(jī)，采用掠入射光干涉原理，專注于高精密加工表面平面度快速測(cè)量評(píng)估,廣泛應(yīng)用于航空航天，汽車工業(yè)噴油嘴行業(yè)，泵、閥門密封件表面，以及光學(xué)工程，激光工程等領(lǐng)域

摘要 從數(shù)控機(jī)床到機(jī)器人，SJ6000激光干涉儀檢測(cè)機(jī)床線性軸精度，為您提供一站式精度校準(zhǔn)方案.

摘要SJ6000深圳工業(yè)激光干涉儀價(jià)格咨詢~設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)一次安裝即可沿任意方向的線性軸同時(shí)測(cè)量5個(gè)自由度的誤差，包括1個(gè)線性誤差、2個(gè)角度誤差和2個(gè)直線度誤差，專門用來(lái)測(cè)量、校準(zhǔn)數(shù)控機(jī)床、三坐標(biāo)、自動(dòng)化設(shè)備等導(dǎo)軌的運(yùn)動(dòng)精度，尤其是在數(shù)控機(jī)床領(lǐng)域，SJ6000激光干涉儀是強(qiáng)...

摘要 SJ6000國(guó)產(chǎn)便攜激光干涉儀可進(jìn)行動(dòng)態(tài)高速測(cè)量，配以相應(yīng)元件后可以測(cè)量角度、線速度、平面度、振動(dòng)幅度及速度等，可實(shí)現(xiàn)高4m/s的測(cè)量速度，以及納米級(jí)的分辨率。它還可以棄普通車間進(jìn)行應(yīng)用，環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)。

摘要 立式接觸式干涉儀是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長(zhǎng)度和外徑的精密測(cè)量，是各級(jí)計(jì)量室的基本長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器之一。

摘要 SJ6000激光干涉儀數(shù)控機(jī)床精度一站式校準(zhǔn)方案，可以檢測(cè)線性、角度、直線度、垂直度等幾何量，可以檢測(cè)數(shù)控機(jī)床、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等精密運(yùn)動(dòng)設(shè)備運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的線性定位精度、重復(fù)定位精度等；同時(shí)也能檢測(cè)運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的俯仰角、扭擺角、垂直度和直線度；并且可滿足回轉(zhuǎn)軸分度精度的測(cè)量。

摘要 主要用于檢定和校準(zhǔn)礦用光干涉甲烷測(cè)定器，符合JJG677-2006《光干涉甲烷測(cè)定器》檢定規(guī)程和MT28-2005《光干涉甲烷測(cè)定器》標(biāo)準(zhǔn)要求

摘要 本儀器適用于檢定、校準(zhǔn)量程為（0~10）%CH4he(10~100)%CH4的光干涉式甲烷測(cè)定器，符合JJG677-2006《光干涉甲烷測(cè)定器》檢定規(guī)程和MT28-2005《光干涉甲烷測(cè)定器》標(biāo)準(zhǔn)要求

摘要 立式接觸式干涉儀JDS-1是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長(zhǎng)度和外徑的精密測(cè)量，是各級(jí)計(jì)量室的基本長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器之一。

摘要 1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據(jù)近代光學(xué)的研究結(jié)果，光兼有波動(dòng)與微粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的波動(dòng)性的特性。

摘要 主要用于平面類光學(xué)元件檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶（包括玻璃、金屬、陶瓷等），配備高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù)，通過(guò)優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測(cè)量?！?/p> 在線詢價(jià)

摘要 產(chǎn)品型號(hào)：MT21產(chǎn)品名稱：MT21無(wú)線球桿儀通信方式：藍(lán)牙傳輸（典型值10m）供電方式：鋰電池分辨率：0

摘要 產(chǎn)品型號(hào)：SJ6000產(chǎn)品名稱：SJ6000激光干涉儀測(cè)量方式：?jiǎn)晤l穩(wěn)頻精度：0

摘要 白光干涉儀產(chǎn)品用途結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微鏡與干涉儀，不需要復(fù)雜光路調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨力、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn)，可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測(cè)量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測(cè)

摘要 CJG10（原AQG-1）光干涉式甲烷測(cè)定器

摘要 CJG100光干涉式甲烷測(cè)定器

摘要 即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè) 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性 可進(jìn)行高速...

摘要 納米干涉形貌儀nanoprofilometer是采用微納干涉顯微鏡部分相干光的干涉技術(shù)制造的納米輪廓儀和納米形貌儀,可定量測(cè)量微米尺度和納米尺度表面形貌輪廓,并且?guī)酌腌娔軌虿杉?百萬(wàn)數(shù)據(jù)點(diǎn)

摘要 光纖端面檢測(cè)干涉儀VFI-200是一種干涉檢測(cè)系統(tǒng),用于檢查切割或拋光光纖的表面質(zhì)量和平整度

摘要 光纖端面干涉檢測(cè)儀VFI-1200是為光纖端面質(zhì)量檢測(cè)和光纖端面平整度檢測(cè)設(shè)計(jì)的光纖端面檢測(cè)系統(tǒng),用于檢查切割或拋光光纖端面表面質(zhì)量和平整度

摘要 激光干涉比長(zhǎng)儀型號(hào):CIMM-BCY-1000 金洋萬(wàn)達(dá)產(chǎn)品介紹：激光干涉比長(zhǎng)儀是一種采用光電顯微鏡作為瞄準(zhǔn)標(biāo)尺，激光干涉儀作為測(cè)量標(biāo)尺對(duì)線紋尺進(jìn)行測(cè)量校準(zhǔn)的儀器，其具有精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn)

摘要 LP-WMG-1邁克爾遜干涉儀主要用于觀察光的各種干涉現(xiàn)象并驗(yàn)證相關(guān)基礎(chǔ)理論，配套法布里-保涉裝置還可觀察多光束干涉銳環(huán)，測(cè)量相鄰光譜線間的波長(zhǎng)差等，是邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)設(shè)備

摘要 WSM100/200邁克爾遜干涉儀 產(chǎn)品簡(jiǎn)介：觀察光的干涉現(xiàn)象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測(cè)定單色光波長(zhǎng)，測(cè)定光源和濾光片相干長(zhǎng)度、配法布里─珀羅系統(tǒng)觀察多光束干涉現(xiàn)象

摘要 介質(zhì)膜干涉濾光片標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)型號(hào):GBW(E)130120 金洋萬(wàn)達(dá)用途及特點(diǎn)：按照J(rèn)JG178-2007檢定見(jiàn)分光光度計(jì)的波長(zhǎng)示值誤差與重復(fù)性

摘要 邁克爾遜干涉儀價(jià)格型號(hào):WMG-I 金洋萬(wàn)達(dá)儀器介紹：WMG-I邁克爾遜干涉儀是我公司自主研發(fā)的一套實(shí)驗(yàn)儀器，通過(guò)借鑒傳統(tǒng)干涉儀的經(jīng)典設(shè)計(jì)，并結(jié)合全新的平臺(tái)式結(jié)構(gòu)精心設(shè)計(jì)而成的

摘要 激光干涉儀SJ6000

摘要 美國(guó)Artium 激光相位多普勒干涉儀LDV，PDI，PDPA，PDA

摘要激光干涉比長(zhǎng)儀是一種采用光電顯微鏡作為瞄準(zhǔn)標(biāo)尺，激光干涉儀作為測(cè)量標(biāo)尺對(duì)線紋尺進(jìn)行測(cè)量校準(zhǔn)的儀器，其具有測(cè)量精度高、重復(fù)性好的特點(diǎn)。該比長(zhǎng) 儀能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)玻璃線紋尺和金屬線紋尺的檢測(cè)和校準(zhǔn)，并能夠直接溯源到激 光波長(zhǎng)。該儀器配有自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，具有實(shí)時(shí)氣壓、濕度補(bǔ)...

摘要SJ6000激光干涉儀，機(jī)床精度一站式校準(zhǔn)方案，可根據(jù)用戶設(shè)定的補(bǔ)償方式自動(dòng)生成誤差補(bǔ)償表，滿足機(jī)床誤差修正的要求。具有實(shí)現(xiàn)線性、角度、直線度、垂直度等幾何量的檢測(cè)功能。可以檢測(cè)數(shù)控機(jī)床、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等精密運(yùn)動(dòng)設(shè)備運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的線性定位精度、重復(fù)定位精度等；同時(shí)也能檢測(cè)運(yùn)...

摘要 光干涉甲烷檢定器綜合校正儀GJX-2技術(shù)指標(biāo)：　　測(cè)量范圍：（0~100）% CH4　　基本誤差：為被校正儀器基本誤差的二分之一　　氣密性：700mmH2O（7000Pa）壓力下持續(xù)5min,壓力下降≤10Pa

摘要 Layertec提供不同類型的高質(zhì)量干涉儀標(biāo)準(zhǔn)鏡，該干涉儀標(biāo)準(zhǔn)鏡的基底材料可以選擇高質(zhì)量熔融石英，釔鋁石榴石，紅外硅中的一種，Layertec干涉儀標(biāo)準(zhǔn)鏡通過(guò)其出色的飛秒激光基底材料提純技術(shù)，可以有效且高質(zhì)量地做到超快激光標(biāo)準(zhǔn)鏡高純度調(diào)節(jié)激光光束性質(zhì)。

摘要THz F-P干涉儀結(jié)構(gòu)由2片高平行度高精度的HRFZ-Si窗鏡組成，窗片的直徑可定制選擇（25.4~150mm），通過(guò)對(duì)窗片的移動(dòng)從而測(cè)量THz波的參數(shù)。一套完整的THz F-P干涉儀包括TFPE干涉儀單元，供電和控制單元，鏡片位移控制軟件，連接線和說(shuō)明書。THz ...

摘要隨著光通訊行業(yè)的飛速發(fā)展，特別是通訊行業(yè)手機(jī)、平板等對(duì)成像質(zhì)量要求的不斷提高，必須對(duì)手機(jī)面板攝像孔的光學(xué)玻璃的透射波前進(jìn)行檢測(cè)和分析。 光學(xué)玻璃的透射波前是指一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的波形（平面波、球面波等）被透射或反射后的波形，它主要用于光學(xué)成像的像質(zhì)評(píng)價(jià)。隨著透射光學(xué)系統(tǒng)（如...

摘要 超大屏觀察用微分干涉顯微鏡(可移除底部工作臺(tái))，ZX-100DIC工業(yè)檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯示。

摘要 SCJ-1光干涉瓦斯檢定器校準(zhǔn)儀

摘要 CJG10/100光干涉式甲烷測(cè)定器

摘要 GJX-2光干涉甲烷測(cè)定器校正儀

摘要 WZX-2光干涉甲烷檢定器校驗(yàn)臺(tái)

摘要 SCJ-2光干涉式甲烷測(cè)定器檢定裝置

摘要 MT21無(wú)線球桿儀

摘要 SJ6000激光干涉儀

摘要 GJX-2光干涉甲烷測(cè)定器校正儀

摘要 鄭州艾迪科技全國(guó)供應(yīng)煤礦安全儀器儀表，WZX-2光干涉甲烷檢定器校驗(yàn)臺(tái)：

摘要 簡(jiǎn)要描述： Brass-3000隱形眼鏡半成品測(cè)試儀是Brass-2000的升級(jí)版，在硬件升級(jí)的同時(shí)，其軟件也具備了更加*的地形圖分析功能。

摘要 簡(jiǎn)要描述： Brass-2000*半成品測(cè)量?jī)x是*加工中*的干涉儀，無(wú)論是加工過(guò)程中的半成品還是模具，其都能測(cè)量和監(jiān)控表面情況，掌握的數(shù)據(jù)將決定Z終的成品質(zhì)量和效率。