概述

Parsum IPP 70-S為標(biāo)準(zhǔn)儀器選件。 該選件可用于化工、食品及醫(yī)藥行業(yè)的終端檢測、工藝控制/優(yōu)化以及實(shí)時質(zhì)量控制，在如磨碎、團(tuán)聚、制粒、篩分及噴霧干噪等單元操作中使用。

• 輕巧且便于安裝，可與新型加工設(shè)備或現(xiàn)有加工設(shè)備快速整合。
• 動態(tài)檢測范圍寬—粒度為50 - 6000μm的顆粒，高達(dá)50m/s的速率檢測。
• 在高固體負(fù)荷條件下測量結(jié)果重復(fù)性高，即使是無規(guī)律移動的顆?！橇骰脖O(jiān)測的理想產(chǎn)品。
• 通過綜合型、客制化軟件進(jìn)行實(shí)時測量及反饋。
• 無需采樣或校準(zhǔn)。
• 多種附件，可應(yīng)用于研磨類、油脂類、粘性及附著性顆粒。

工作原理

Parsum IPP 70-S探頭采用成熟的空間濾波測速測量理論。 無需校準(zhǔn)或采樣且無顆粒為球型的假設(shè)。

空間濾波測速是一種以數(shù)字為基礎(chǔ)的弦長測定法，通過收集各個顆粒的數(shù)據(jù)，得出顆粒粒度分布。

穿過激光束墜落的顆粒投射出一片陰影，中斷了至線性監(jiān)測器陣列（由光纖組成）的光線流。 由空間濾波檢測器線性相鄰纖維元件的連續(xù)中斷來計(jì)算顆粒的速度。

采用第二信號—脈沖信號來確定粒度，即測量顆粒阻擋一個信號光纖的時間長度。

測量大量顆?？傻贸隽钊藵M意的可靠結(jié)果，從而根據(jù)用戶需要，導(dǎo)出各種粒度參數(shù)以及體積分布的參數(shù)。

Parsum IPP 70-S可直接安裝在管線內(nèi)或容器內(nèi)。 雖然無需備制樣品，但仍可采用內(nèi)部壓縮空氣來分散團(tuán)塊，保持流道與光學(xué)器件無附著物，同時可在高固體負(fù)荷及高溫條件下進(jìn)行測量。

信息從測量區(qū)域通過光纖電纜傳遞至探頭的電子外殼，增加了儀器的穩(wěn)健性。 然后，數(shù)據(jù)可傳遞至控制室或現(xiàn)有的控制系統(tǒng)，進(jìn)行工藝監(jiān)測及控制。 由于該儀器在傳感區(qū)進(jìn)行集中測量，可采用適合的關(guān)聯(lián)性對流量的變化進(jìn)行預(yù)測。

技術(shù)指標(biāo)

顆粒粒度

測量范圍：:

50-6000μm

測量原理：:

空間濾波測速儀

顆粒速度

測量范圍：:

0.01 – 50m/s

測量原理：:

空間濾波測速儀

常規(guī)

光源:

670nm

激光安全：:

1 類

運(yùn)行環(huán)境

溫度范圍:

10°C -100°C

濕度:

35% - 80%無冷凝

外殼防護(hù)等級:

IP 65

支持

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