概述

Parsum IPP 80 適用于食品和制藥應(yīng)用，可用于批量制粒工藝中的端點(diǎn)檢測(cè)，以及連續(xù)制造工藝的實(shí)時(shí)監(jiān)控。 適合在磨碎、團(tuán)聚、制粒、涂層以及篩分等設(shè)備操作中使用。

• 緊湊、輕巧且便于安裝，可與新型加工設(shè)備或現(xiàn)有加工設(shè)備快速整合
• 表征范圍為 50 μm 至 6mm 且速度高達(dá) 50 m/s 的顆粒
• 高固體負(fù)荷的可重復(fù)測(cè)量，支持實(shí)時(shí)流化床監(jiān)控
• 通過(guò)綜合型、客制化軟件進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量及反饋。
• 無(wú)需樣品提取即可執(zhí)行測(cè)量
• 提供多種支持測(cè)量研磨類(lèi)及粘性顆粒的附件
• 符合在 0 區(qū)和 20 區(qū)內(nèi)操作的 ATEX 要求。

工作原理

Parsum 探頭采用空間濾波測(cè)速的測(cè)量理論。 這是一種以數(shù)字為基礎(chǔ)的弦長(zhǎng)測(cè)定法，通過(guò)收集各個(gè)顆粒的數(shù)據(jù)，獲得顆粒粒度分布和速度分布。

穿過(guò) Parsum 探頭測(cè)量區(qū)的顆粒會(huì)阻止激光光源發(fā)出的光線。 使用由光纖組成的線性監(jiān)測(cè)器陣列可監(jiān)測(cè)產(chǎn)生的陰影。 通過(guò)跟蹤顆粒陰影在順序監(jiān)測(cè)器元素中的移動(dòng)，可計(jì)算顆粒速度。 通過(guò)測(cè)量顆粒阻止單條光纖的時(shí)長(zhǎng)，可確定顆粒粒度。

測(cè)量大量顆?？傻贸隽钊藵M意的可靠結(jié)果，從而導(dǎo)出各種粒度參數(shù)以及體積分布的參數(shù)。

Parsum 探頭可直接安裝在工藝管道內(nèi)或容器內(nèi)。 雖然無(wú)需備制樣品，但仍可采用內(nèi)部壓縮空氣來(lái)分散團(tuán)塊，保持流道與光學(xué)器件無(wú)材料，同時(shí)可在高固體負(fù)荷條件下進(jìn)行測(cè)量。

信息從測(cè)量區(qū)域通過(guò)光纖電纜傳遞至探頭的電子外殼，增加了儀器的穩(wěn)健性。 探頭與計(jì)算機(jī)之間可使用長(zhǎng)達(dá) 100m 的直接電纜連接，從而支持在安全區(qū)域內(nèi)操作系統(tǒng)。 通過(guò) 4-20mA 信號(hào)可將結(jié)果報(bào)告給 PCL，或者使用 OPC 或 TCP 服務(wù)器報(bào)告給工廠控制系統(tǒng)。

技術(shù)指標(biāo)

顆粒粒度

測(cè)量范圍：:

50μm 至 6mm

速度測(cè)量范圍:

0.01 - 50m/s

濃度范圍:

高達(dá) 30v%*

與分散劑、添加劑及樣品接觸的材料:

316L 不銹鋼（DIN1.4435，1.4404）

Sapphire 窗口

注解:

* 取決于樣品和顆粒特性

重量與尺寸

尺寸：:

101mm x 85mm x 65mm

探頭

長(zhǎng)度:

282mm

直徑:

25mm

運(yùn)行環(huán)境

溫度（可控）:

高達(dá)100 °C

溫度范圍:

10 °C - 60 °C

壓力:

高達(dá) 15 bar

濕度:

35% - 80%無(wú)冷凝

外殼防護(hù)等級(jí):

IP 65

防爆裝置:

0/20 區(qū)通過(guò) ATEX 認(rèn)證

電源功率:

100-240 V，50-60 Hz

常規(guī)

光源:

670 nm

激光安全：:

1 類(lèi)

支持

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幫助臺(tái)

• 及郵件支持。
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培訓(xùn)

• 用戶培訓(xùn)活動(dòng)

軟件下載

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Malvern 白金計(jì)劃

適用于儀器正常運(yùn)行時(shí)間大化是確保日常性能關(guān)鍵所在的實(shí)驗(yàn)室。 一旦不幸發(fā)生事故，我們的別響應(yīng)以及“全包式”定價(jià)計(jì)劃將涵蓋這些意外維修的費(fèi)用。

Malvern 黃金計(jì)劃

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Malvern 青銅計(jì)劃

適用于需要優(yōu)化儀器性能的實(shí)驗(yàn)室，定期預(yù)防性維護(hù)是其重中之重。

*包含人工和差旅費(fèi)用***需另外收費(fèi)