綜合IV性能測(cè)試儀

數(shù)字源表的價(jià)格，器件分析儀的性能！
請(qǐng)問你還在購買源表嗎？買來不會(huì)用、不會(huì)接線、沒有程控自動(dòng)化軟件、即便是有軟件，沒有辦法滿足自己的要求，等等問題一直困擾著老師和同學(xué)。現(xiàn)在好了，我公司推出的JYC3100綜合IV性能測(cè)試儀，可以解決你的問題，讓你只需專注予你的科研，而無需了解儀器設(shè)備，輕輕一點(diǎn)，你需要的數(shù)據(jù)就很快會(huì)呈現(xiàn)，實(shí)時(shí)曲線、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)、自動(dòng)保存完好的數(shù)據(jù)文件，還有專業(yè)的工程師技術(shù)支持，等等一切的一切會(huì)讓你輕松的完成你需要的實(shí)驗(yàn)工作，來助力你的科研事業(yè)蒸蒸日上。

儀器簡介

JYC3100綜合IV性能測(cè)試儀，內(nèi)部包含高性能的進(jìn)口數(shù)字源表和電源，外部配置計(jì)算機(jī)，以及測(cè)試盒和探針臺(tái)等組成?？梢葬槍?duì)各種形式材料器件，如：封裝的、晶圓片、有無電極的材料等形式；可用于測(cè)試半導(dǎo)體材料器件，鐵電、壓電、晶體等材料，以及光電器件、傳感器、太陽能電池等，是一款真正的用途廣泛、功能*、性價(jià)比很高的測(cè)試儀器。

典型應(yīng)用
非常適合當(dāng)今多種現(xiàn)代化電子器件的電流/電壓特性分析和功能測(cè)試，包括：
•納米材料與器件：石墨烯、碳納米管、納米線、低功耗納米結(jié)構(gòu)
•半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)：晶圓、薄膜
•有機(jī)材料與器件：電子墨水、印刷電子技術(shù)
•能量效率與照明：LED/AMOLED、光伏/太陽電池、電池
•分立器件與無源組件：
兩端器件: 電阻器、二極管、齊納二極管、LED、傳感器；
三端器件:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 (FET)，COMS器件和有機(jī)半導(dǎo)體器件等等
•材料特性分析：電阻率、霍爾效應(yīng)

主要性能指標(biāo)
1、SMU模塊
高達(dá) 200 V/1 A
2檔量程范圍： 20V 10A；200V 100mA
電源電壓：小量程 ±20mV,小分辨率 500nV
電源電流：小量程 ±10nA,小分辨率 500fA
測(cè)量電壓：小量程±20mV，小分辨率：10nV
測(cè)量電流：小量程±10nA，小分辨率：10fA
2、電源模塊：60V/2A

測(cè)試軟件

1、全中文圖形化的用戶界面，功能設(shè)置靈活方便，參數(shù)設(shè)置提供多種選擇。
2、實(shí)時(shí)顯示圖形曲線，并自動(dòng)存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)。
3、具備完整的器件測(cè)試分類，包括如：二極管、光電管、MOS管等。
4、主要軟件功能：
基本測(cè)試：經(jīng)典掃描、列表掃描、時(shí)間采樣、長時(shí)間采樣、四線低電阻測(cè)試、脈沖測(cè)試等
二極管：正向?qū)y(cè)試、反向擊穿測(cè)試等。
MOS管：輸出特性、轉(zhuǎn)移特性，正向?qū)娮?、反向擊穿電壓等?/p>

應(yīng)用測(cè)試：太陽能電池測(cè)試、四探針電阻率測(cè)試

標(biāo)準(zhǔn)配置測(cè)試夾具
1）適合四端口封裝器件測(cè)試，并且可以更換多種封裝。

2）探針臺(tái)：
通常配置：XYZ三軸移動(dòng)卡盤平臺(tái)、體視顯微鏡、三同軸管狀?yuàn)A具、探針座和探針等。
選件配置：CCD采集卡、屏蔽箱和光源輸出光纖支架

3）直線4探針夾具：用于方塊電阻及表面電阻率的測(cè)試。