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環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統是為大氣環(huán)境下光電子能譜測量設計的光電子能譜儀器,PhotoemissionSpectroscopy，通過空氣中的光電發(fā)射測量材料的功函數，不需要真空，具有英國和

環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀產品詳情

環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統是為大氣環(huán)境下光電子能譜測量設計的光電子能譜儀器,Photoemission Spectroscopy，通過空氣中的光電發(fā)射測量材料的功函數，不需要真空，具有英國和。
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統在3.4eV到7.0 eV的激發(fā)范圍內能夠測量金屬的功函數（精度：0.05 eV）和半導體的電離電位，同時使用開爾文探針測量表面費米能級（精度：0.001 eV）。
隨著表面光電壓（SPV）和表面光電壓譜（SPS）的加入，環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統可以測量半導體的全波段。

環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統特點
空氣中光電效應的功函數
態(tài)密度測量
3.4 eV至7.0 eV能量范圍
所有半導體帶的測量
用開爾文探針測量接觸電位差
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統應用
有機和非有機半導體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
太陽能電池與有機光伏
腐蝕與納米技術

環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統規(guī)格參數

規(guī)格參數	APS01	APS02	APS03	APS04
開爾文探針三軸掃描功能		?	?	?
表面光電壓（SPV）			?	?
表面光電壓譜（SPS）				?
針尖Tip材料 / 直徑	2 mm gold tip
CPD分辨率	1 - 3 meV
高度控制 (自動)	25 mm 自動
開爾文探針模式和PE模式	CPD 和光發(fā)射測量
CPD 測量時間	CPD 測量時間 <1分鐘
PE分辨率	全部光電子發(fā)射測量
WF 測量時間	PE測量 <5分鐘
DOS 測量	Full access to DOS information
光學系統	彩色相機帶ZOOM放大,監(jiān)測定位
示波器	數字TFT示波器用于實時信號
測量樣品	金, 鋁，銀等
法拉第外殼底座 (mm)	450 x 450 mm 法拉第外殼
控制系統	計算機控制，標配軟件
已經申請的	US:8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / EU:2783205 / JP:6018645

關鍵詞：光譜儀示波器控制系統

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