平面度和應(yīng)力測試儀的光學測量原理確保了高精度。它是基于對垂直入射激光束沿恒定步長線的反射角的測量。表面形狀可以根據(jù)測量點之間反射角的變化來精確計算。
平面度和應(yīng)力測試儀可測量半導體行業(yè)鍍膜的薄膜應(yīng)力,薄膜應(yīng)力可以通過涂層前后測量的半徑來計算。
平面度和應(yīng)力測試儀特點
標準測量面積為200mm,*大的測量面積可訂做而不會降低精度
測量精度高,分辨率為0.1弧秒,表面形狀再現(xiàn)性達到100nm
測量工作距離大,測量范圍大,適用于測量具有強曲率的表面,如goebel反射鏡、硅片或其他表面。所使用的光學測量原理與工作距離無關(guān),并確保了較高的工作距離,因此沒有損壞樣品的危險。
可選2D或3D測量
軟件模塊支持測量涂層或薄膜應(yīng)力,用于通過福克斯理論計算薄膜應(yīng)力,根據(jù)涂覆過程前后的平均曲率半徑計算。
平面度和應(yīng)力測試儀技術(shù)規(guī)格
表面曲率(P-V)再現(xiàn)精度:≤100 nm**
光學測量系統(tǒng)的分辨率:0.1弧秒
光學測量系統(tǒng)的精度:1弧秒
測量速度:10mm~30mm/秒
測量場:標準:ø200毫米*(可以在沒有問題的情況下進行大范圍操作)
試樣厚度:不受限制
***小曲率半徑和根據(jù)掃描長度的箭頭高度:
200mm:R=18 m 290µm,300mm:R=25 m 435µm,500mm:R=43 m 725µm
自由工作距離: 不受限制
測量波長: 標準:670nm*
自動測量


































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