高溫鐵電測試儀

產(chǎn)品名稱：高溫鐵電測試儀

產(chǎn)品介紹

高溫鐵電測試儀用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的科學研究及近代物理實驗中的固體物理實驗以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測中。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標和校準，并且能實現(xiàn)較高的測量準確度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù)，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較quan面準確地測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計，實現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡單方便。

鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性，可準確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？蓽y鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。

產(chǎn)品特點

• 電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)

• 鐵電疲勞性能測量

• 鐵電保持性能測量

• 電阻測量

• 漏電流測量

• 高精度三維移動平臺

軟件功能

HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合導體、半導體材料的各項測試需求，具備*的穩(wěn)定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復，支持新的國際標準。兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。

友善的使用界面

多語界面：支持中文/英文 兩種語言界面；

即時監(jiān)控：系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽，無需等待；

圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對狀態(tài)說明，了解測試狀態(tài)；

使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報警功能。

硬件支持

• 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器

• 集成打印機接口，*大可擴充8個USB接口

• 支持16G內(nèi)存，60G固體硬盤，讓系統(tǒng)運行更加流暢。

應用領(lǐng)域

• 鐵電材料的電滯回線（動態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。

• 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。

• 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。

技術(shù)參數(shù)

1、電壓范圍：±30V（可擴展至±4KV）

2、輸出電流峰值：±1A

3、大負荷電容：1μF

4、動態(tài)電滯回線測試頻率：0.001Hx～100kHz

5、鐵電材料漏電流的測試：10pA～100mA

6、小脈沖寬度：25ns

7、上升時間：7ns

8、極化測試精準到：10fC

9、塊體材料樣品盒可進行室溫～1200℃電滯回線測定