MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統(tǒng),采用高精度微區(qū)光路平臺,通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊,實現(xiàn)了共焦拉曼*測量功能。幫助用戶快速的對樣品微觀結(jié)構(gòu),光譜信息進行測試和分析,大大的降低了微觀測試的復(fù)雜程度。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro,在提供高質(zhì)量信號質(zhì)量的同時,保證了測試效率。精密光路設(shè)計能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級別的聚焦光斑和探測區(qū)域,系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊,實現(xiàn)75cm-1的探測范圍。
MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統(tǒng),采用高精度微區(qū)光路平臺,通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊,實現(xiàn)了共焦拉曼*測量功能。幫助用戶快速的對樣品微觀結(jié)構(gòu),光譜信息進行測試和分析,大大的降低了微觀測試的復(fù)雜程度。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro,在提供高質(zhì)量信號質(zhì)量的同時,保證了測試效率。精密光路設(shè)計能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級別的聚焦光斑和探測區(qū)域,系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊,實現(xiàn)75cm-1的探測范圍。
型號Microteq R1 QEPro光譜儀型號532Raman(同S1系統(tǒng))785Raman探測器~10cm-1 @5μm狹縫(典型值)~6cm-1@5um狹縫(典型值)分辨率半導(dǎo)體制冷背照式減薄型面陣探測器光路接口SMA905光纖接口顯微鏡光路無限遠色差校正光學(xué)系統(tǒng)物鏡4組明暗場消色差物鏡:5X,10X,20X,50X照明器明暗場照明器相機CMOS相機,≥5.0MP光譜模塊光路激發(fā),接收成像共焦設(shè)計適用激光波長532nm(可定制其他波長)激光功率0-20mW(到樣品)聚焦光斑尺寸2μm@50X(典型值)光譜范圍150-4200cm-1150-2000cm-1低波數(shù)模塊75cm-1起尺寸250*150*75mm重量1.5Kg光學(xué)接口激光器:FC/PC,光譜儀:SMA905顯微鏡接口兼容國內(nèi)外主流品牌顯微鏡

































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