CISC RAIN Xplorer 卷對卷測試儀用于對卷軸上的RAIN RFID標(biāo)簽進(jìn)行自動測試。
高速卷軸上RAIN RFID標(biāo)簽的自動化測試
緊湊型、可負(fù)擔(dān)得起的工業(yè)級機(jī)器。
支持的協(xié)議包括:ISO/IEC 18000-63、EPC UHF Gen 2v2、RAIN RFID
讀取EPC
讀取存儲器
寫內(nèi)存
多頻點及功率等級(F,P)
可根據(jù)要求增加NFC標(biāo)簽測試
主要特點:
卷對卷測試儀涵蓋的典型測試用例:
靈敏度測試
用戶定義的通過閾值
通過/不通過
內(nèi)存初始化
內(nèi)存驗證
測試速度18000
失敗標(biāo)記選項:信號、日志文件、墨水標(biāo)記、點標(biāo)簽涂抹器、暫停和手動更換.































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