大口徑平面反射鏡的研制關(guān)鍵技術(shù)是大口徑平面鏡的檢測(cè)方法,本中心采用子孔徑拼接技術(shù)及Ritchey-Common檢驗(yàn)方法:
子孔徑拼接技術(shù)采用350mm口徑激光干涉儀進(jìn)行拼接,將被檢反射鏡安置在四維平移臺(tái)上可以進(jìn)行兩維平移調(diào)節(jié)及兩位角度調(diào)節(jié)。
Ritchey-Common檢測(cè)技術(shù)需要利用大口徑球面反射鏡作為輔助光學(xué)元件進(jìn)行檢測(cè),要求球面分反射鏡口徑為平面反射鏡口徑的1.2倍~1.5倍。




























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