透反射熱臺偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子等專業(yè)的專業(yè)實驗儀器。與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察其溶化、升華、結晶過程中的狀態(tài)和各種變化。
  　　專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子材料學而研制。觀察高聚物熔融和結晶過程中的形態(tài),結晶速率及動力學計算；觀察雙折射體的光學效應；微生物形貌觀察；組織細胞核、壁形態(tài)觀察；地質材料偏光形態(tài)觀察；無機晶體材料觀察,特別對含有結晶體的材料進行熱性能變化的研究更為重要。

1．目鏡

2．物鏡

3.光學放大倍數：50X--600X
   4.目鏡管：轉軸式（傾斜30°），內置檢偏器,可自由切換正常觀察與偏光觀察,推入式
　  勃氏鏡,中心可調,λ補償器,λ/4  補償器,石英鍥補償器
5.透射照明：6V 20W鹵素燈,亮度可調,起偏器可360°旋轉有0、90、180、270四個讀數
　反射照明: 6V 20W鹵素燈,亮度可調, 起偏器可旋轉；
6.載物臺：機械式附加旋轉臺面   尺寸 φ100mm， 360°旋轉
7.調焦機構：粗微動同軸，齒輪轉動 , 帶限位及調節(jié)松緊機構
8.聚光鏡：阿貝聚光鏡NA1.25，升降上下可調
9.防霉系統(tǒng):防霉
10.成像系統(tǒng):配置日本JVC高像素CCD,像素達47萬；
11.高精熔點測定儀(具體參數見熔點儀資料)
　 ①精密溫度控制儀顯示窗口由上下二排四組數子及文字（英文）組成。
　　 上排：溫度測量顯示組，下排 ：溫度設定顯示組.  數顯方式:整數顯示
　 ②恒溫范圍：室溫---400℃, 恒溫精度：全范圍≤±0.5, 恒溫系統(tǒng)波動度：±1℃
　　 如作熔點測量,則只能間接測量;必須通過標準物質熔點校正得到修正值后,再進行測量.
　　 此儀器只能測量相對溫度,不能測量溫度; 儀器顯示溫度不等于物質的實際溫度.
　 ③溫度速度：可設置升溫速度范圍(可調)：0.5---36秒/℃
　　 升溫速度：室溫---100℃≤40秒
　　 最慢升溫速度達36秒/℃,達400℃時間：240分鐘
　　 即刻恒溫響應時間：≤0.01秒
　 ④熱臺尺寸:  厚度:12mm;  大小:Φ110mm;  高溫區(qū): Φ30mm,  通光孔: Φ4mm
　 ⑤熱臺的外體與高溫度采用三根陶瓷分開隔熱;在中心溫度400℃,室溫25℃時,熱臺外
　　 體溫度≤70℃,熱臺載物重量：200克
　 ⑥熱臺傳感器:高精度的雙傳感器,連接熱臺與溫控儀

電腦型 (XPR-700V)：1.顯微鏡 2.適配鏡 3.攝像器 　4.A/D(圖像采集) 5.N型熱臺
數碼型 (XPR-700D)：1.顯微鏡 2.適配鏡 3.數碼相機 4.N型熱臺

XPR-700V型：50--3400倍　　　　XPR-700D型：50--2000倍

1．目鏡：16X(Φ11mm)　　　　　　2．物鏡：20X  50X  80X   100X
3．移動尺(30X25mm)　　　　　　 4．圖像測量軟件