TWS藍(lán)牙射頻生產(chǎn)測試平臺(tái)是深加博公司專為TWS這類設(shè)備設(shè)計(jì)的整機(jī)測試解決方案。專為晶片組設(shè)計(jì)的一站式（Turnkey）RF測試解決方案。配合各類測試儀器能讓客戶以最少的工程量發(fā)揮迅速的量產(chǎn)能力。

TWS-ATE測試平臺(tái)重點(diǎn)：

• 綜合 DUT 控制，兼容DUT Mode及Direct Test Mode

• 一對多并行

• 多種型號(hào)測試儀控制

• 數(shù)據(jù)存檔和分析的數(shù)據(jù)日志記錄支持

• 通過直觀的用戶界面實(shí)現(xiàn)測試計(jì)劃的設(shè)定

• 易于使用的制造測試操作界面

TWS-ATE 測試成品藍(lán)牙射頻性能（依照藍(lán)牙射頻測試規(guī)范執(zhí)行測試）

TWS-ATE 支援的測試項(xiàng)目包括：

• 輸出功率

• 頻率偏移

• 調(diào)制特性

• 功率控制

• 載波漂移

• 輸入電平

• 單時(shí)隙靈敏度

• 多時(shí)隙靈敏度

一站式的解決方案

• 對芯片組參考設(shè)計(jì)進(jìn)行全面測試并與關(guān)鍵的芯片組公司一起進(jìn)行驗(yàn)證。顯著減少工程開發(fā)周期而不會(huì)犧牲質(zhì)量。

優(yōu)化的性能

• 基于芯片組及儀器原廠認(rèn)證API開發(fā)的并行測試系統(tǒng)，以確保測試和校準(zhǔn)例程是進(jìn)行優(yōu)化的，以減少時(shí)間并實(shí)現(xiàn)產(chǎn)量。

可由用戶配置

• 測試列表、條件和限制等均可配置。

友好的用戶界面

• 簡潔的用戶界面，自動(dòng)調(diào)用測試計(jì)劃并可顯示良品率。

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄

• 日志文件采用通用 CSV 格式，便于導(dǎo)出分析。

技術(shù)支持

• 快速高效的技術(shù)支持，包括遠(yuǎn)程支持和現(xiàn)場應(yīng)用服務(wù)。

TWS-ATE 測試方案可用于任何采用藍(lán)牙技術(shù)的地方。其中包括：

• 智能手機(jī)

• 平板電腦

• 藍(lán)牙耳機(jī)

• 藍(lán)牙音響

• WLAN / 藍(lán)牙 SiP （系統(tǒng)級(jí)封裝）設(shè)備

• 啟用藍(lán)牙的物聯(lián)網(wǎng)

支援的測試儀器：

• IQxel-M

• MT8852B

• CMW270

• CMW500

• CBT32

• N4010A