Keysight E5071C 網(wǎng)絡(luò)分析儀具有廣泛的頻率范圍和眾多功能，在同類(lèi)產(chǎn)品中具有的射頻性能和的測(cè)試速度。

　　是制造工程師和研發(fā)工程師測(cè)量9 kHz至20 GHz射頻元器件和電路的工具

　　同類(lèi)產(chǎn)品中的射頻性能和的測(cè)試速度

　　可滿足研發(fā)及生產(chǎn)使用需求

　　2 或 4 端口，50 Ω，S 參數(shù)測(cè)試儀

　　廣泛的頻率范圍

　　通過(guò)選件，可以使平率擴(kuò)展至9 kHz至4.5/6.5/8.5/14/20 GHz

　　無(wú)源射頻零組件

　　有源射頻零組件

　　四通路射頻原件

　　輸入頻率范圍

　　從9 kHz/100 kHz(帶有偏置T型接頭)到4.5 GHz/8.5 GHz

　　主要技術(shù)指標(biāo)

　　寬動(dòng)態(tài)范圍：在測(cè)試端口上的動(dòng)態(tài)范圍> 123 dB(典型值)

　　極快的測(cè)量速度：39 ms(進(jìn)行雙端口校準(zhǔn)，掃描1601點(diǎn)時(shí))

　　低跡線噪聲：0.004 dB rms(70 kHz IFBW時(shí))

　　集成的2和4端口，帶有平衡測(cè)量能力

　　內(nèi)置Visual Basic for Applications(VBA)

　　主要選件

　　E5071C-010 時(shí)域分析

　　E5071C-008 頻率偏置模式

　　E5071C-TDR 增強(qiáng)時(shí)域分析

　　E5071C-UNQ Standard stability timebase

　　E5071C-1E5 High stability timebase

　　E5071C-245 2-port Test Set, 100 kHz to 4.5 GHz with Bias Tees

　　E5071C-280 2-port Test Set, 9 kHz to 8.5 GHz without Bias Tees

　　E5071C-285 2-port Test Set, 100 kHz to 8.5 GHz with Bias Tees

　　E5071C-480 4-port Test Set, 9 kHz to 8.5 GHz without Bias Tees

　　E5071C-485 4-port Test Set, 100 kHz to 8.5 GHz with Bias Tees

　　E5071C-240 2-port Test Set, 9 kHz to 4.5 GHz without Bias Tees

　　E5071C-245 2-port Test Set, 100 kHz to 4.5 GHz with Bias Tees

　　E5071C-440 4-port Test Set, 9 kHz to 4.5 GHz without Bias Tees

　　E5071C-2K5 2-port Test Set, 300 kHz to 20 GHz with Bias Tees

　　E5071C-445 4-port Test Set, 100 kHz to 4.5 GHz with Bias Tees

　　E5071C-4K5 4-port Test Set, 300 kHz to 20 GHz with Bias Tees

　　E5071C-4D5 4-port Test Set, 300 kHz to 14 GHz with Bias Tees

　　E5071C-2D5 2-port Test Set, 300 kHz to 14 GHz with Bias Tees