實(shí)驗(yàn)室太陽(yáng)能組件IV測(cè)試儀

ASC32A+

u 技術(shù)參數(shù)達(dá)到A+A+A+標(biāo)準(zhǔn)

u 300~1200nm全光譜

u 5種智能掃描方法

u 長(zhǎng)脈沖：10-100ms（可調(diào)）

u 等效脈寬技術(shù)

u 配置EL測(cè)試模塊

產(chǎn)品介紹

ASC32A+系列太陽(yáng)電池組件測(cè)試儀是專門針對(duì)實(shí)驗(yàn)室用戶而研發(fā)，為側(cè)向直射式光源結(jié)構(gòu)，模擬真實(shí)太陽(yáng)光照射條件，滿足300-1200nm全光譜，脈沖寬度10ms至100ms可調(diào)，同時(shí)具有等效脈寬技術(shù)，100ms脈寬可等效500ms測(cè)試效果。設(shè)備滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求：1.A+A+A+性能；不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均超過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。2。全光譜；光譜范圍滿足300-1200nm范圍，實(shí)現(xiàn)高效晶硅電池的全光譜測(cè)試，測(cè)試準(zhǔn)確性大幅提高。3.五種智能掃描方法：常規(guī)線性掃描方法、局部掃描方法、遲滯掃描方法、分段掃描方法、非線性掃描方法，操作靈活，適用于實(shí)驗(yàn)室客戶定制化測(cè)試方案需求。4.支持EL測(cè)試功能，一臺(tái)機(jī)器同時(shí)具有兩種不同類型的測(cè)試功能，能夠同時(shí)滿足測(cè)量太陽(yáng)電池組件的電性能與EL缺陷檢測(cè)的要求，一次接線，兩種測(cè)試。

測(cè)試對(duì)象：適用于晶體硅太陽(yáng)能電池組件（PERC、N型、TOPcon以及HJT等）、支持MBB、半片、疊片等組件、支持薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測(cè)試、缺陷檢測(cè)和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。

性能特點(diǎn)

u A+A+A+標(biāo)準(zhǔn)：高于IEC60904-9 2020標(biāo)準(zhǔn)

u 300-1200nm全光譜：更加真實(shí)反映組件在各波段響應(yīng)能力

u 適合各類電池研究、輔材研究實(shí)驗(yàn)室

u 電子負(fù)載：掃描方向支持Isc→Voc和Voc→Isc兩種模式

u 智能掃描方法：常規(guī)線性掃描方法、局部掃描方法、遲滯掃描方法、分段掃描方法、非線性掃描方法

u 測(cè)量對(duì)象：PERC、N型、HJT、IBC、TOPcon、CIGS、普通晶硅等技術(shù)組件

u 輻照度：調(diào)節(jié)范圍可定制，至200 W/m2

u 支持EL測(cè)試功能：一次接線，兩種測(cè)試

技術(shù)指標(biāo)