PXIe-514X系列是4通道獨(dú)立的PXIe插卡式高性能精密源表,能夠同時(shí)輸出和測量電壓電流,蕞大支持±30V±1000mA直流/脈沖輸出,最小脈寬可達(dá)100μs。支持源表標(biāo)準(zhǔn)SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步觸發(fā),提高了系統(tǒng)測試效率并降低成本。晶圓|芯片特性測試4通道源測量單元認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢

產(chǎn)品特點(diǎn)
四個(gè)獨(dú)立的源測量通道,支持并行測試
蕞大支持單通道3W功率輸出或吸收
支持標(biāo)準(zhǔn)SCPI指令集,提供*的驅(qū)動及示例代碼
支持脈沖輸出,脈寬低至100μs,占空比0~100%可調(diào)
支持連續(xù)、sweep、序列等多種工作模式
蕞大電流電壓分辨率低至10pA/100μV
支持DIO外部同步觸發(fā)接口,支持2/4線測量
4/8個(gè)獨(dú)立的源測量通道,支持并行測試
蕞大支持±30V±1A(脈沖)輸出
產(chǎn)品選型

應(yīng)用范圍
半導(dǎo)體晶圓、芯片特性測試
LD激光器特性測試?
太陽能電池充放電、壽命測試?
傳感器及材料測試
更多有關(guān)晶圓|芯片特性測試4通道源測量單元詳情找普賽斯儀表專員為您解答,普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向,深耕半導(dǎo)體測試領(lǐng)域,在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗(yàn),先后推出了直流源表,脈沖源表、插卡式源表、脈沖恒流源、高壓程控電源、功率器件靜|動態(tài)測試系統(tǒng)、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、大功率激光器老化測試系統(tǒng)等測試設(shè)備,廣泛應(yīng)用于高校研究所、實(shí)驗(yàn)室,新能源,光伏,風(fēng)電,軌交,變頻器等場景。


































