ATR元件

Tydex為全內(nèi)反射測量提供了各種衰減全反射（ATR）元件。通常，當(dāng)樣品難以用透射進(jìn)行分析時，使用反射光譜學(xué)。頂空ATR系統(tǒng)應(yīng)用于凝膠，薄膜和細(xì)粉分析。用不同的頂空ATR系統(tǒng)分析難以處理的易揮發(fā)或?qū)諝饷舾械臉悠贰?/span>它們也用于提供溫度敏感性分析和聚合物膜遷移，以及表面定向和反應(yīng)動力學(xué)研究。單反射ATR系統(tǒng)用于高吸收和小樣本進(jìn)行靜態(tài)或流動分析。

當(dāng)紅外輻射進(jìn)入折光指數(shù)較高，透射性較好的材料時發(fā)生內(nèi)部反射。 如果入射角超過臨界角（方程1），則能量被與晶體緊密接觸的樣品吸收。

公式 1全內(nèi)反射的條件。

其中n1，n2 - 兩種介質(zhì)的折射率。

如果系統(tǒng)使用多個反射附件，儀器的光束反復(fù)反射，并且每次反射都會吸收一些能量。當(dāng)光束離開晶體并到達(dá)檢測器時，它包含來自樣品的光譜數(shù)據(jù)。其結(jié)果是可以記錄吸收光譜。

以下因素影響ATR譜：

?入射光的波長;

?樣品和ATR晶體的折射率;

入射角度

?晶體與樣品接觸的效率。

ATR晶體由足夠硬的材料制成，具有高折射率，并且晶體被配置為允許內(nèi)部反射。樣品與ATR晶體保持接觸，并記錄光譜作為晶體透射曲線和樣品吸收曲線的疊加。

圖1通過ATR元件的光傳播。

Tydex提供幾種幾何形狀的定制ATR組件：梯形，平行四邊形，桿和半球。 使用各種材料：ZnSe，Ge，Si和藍(lán)寶石。 所有材料和產(chǎn)品均符合嚴(yán)格的控制標(biāo)準(zhǔn)，包括光譜特性和一般性能要求以及規(guī)格控制。