單試樣法低溫脆性測(cè)定儀主要根據(jù)GB/T1682-2014 硫化橡膠低溫脆性的測(cè)定 單試樣法定制的一款測(cè)定硫化橡膠低溫脆性溫度試驗(yàn)機(jī)，可通過(guò)A程序測(cè)定硫化橡膠的脆性溫度，也可以測(cè)定程序B在某一溫度下的破壞程度。

單試樣法低溫脆性測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)：
1. 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1682 
2. 試驗(yàn)溫度：常溫 ～ -70℃
3. 冷卻方式：雙段式全密閉式壓縮機(jī)製冷
4. 冷卻介質(zhì)：酒精（客戶自備）
5. 控制方式：PLC可程式設(shè)計(jì)控制器+HMI彩色液晶觸屏操控
降溫速度：常溫到-70℃≤60min
6. 溫度解析度：0.1℃
7. 溫度波動(dòng)度：試樣冷凍期間：≤±1℃
8. 衝擊器重量：200±20g。
9. 衝擊頭：R1.5mm 
10. 衝擊彈簧：
自由狀態(tài)：直徑19mm,長(zhǎng)度85～90mm；
壓縮狀態(tài)：長(zhǎng)度40±1mm，負(fù)荷108～118N
11. 沖擊方式：彈簧衝擊，氣缸傳動(dòng)
12. 沖擊器工作行程：40±1mm。
13. 試樣受衝擊部位到夾持器下端距離：11.0±0.5mm。
14. 衝擊裝置的彈簧在壓縮狀態(tài)下，衝擊器端部到試樣的距離：25±1mm。
15. 夾持器：採(cǎi)用絕熱材料。
16. 內(nèi)箱尺寸(W*D*H) (約)：198mm ×318mm ×189mm
17. 外形尺寸(W*D*H) (約)：828mm ×905mm ×1625mm
18. 重量：約300kg
19. 電源：AC220V，50HZ,20A

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

我公司采用彈簧沖擊模式，市場(chǎng)上普遍采用氣缸沖擊，這種沖擊方式由于沖擊頭是萬(wàn)向，這種很容易產(chǎn)生沖擊頭跑偏。

采用PLC編程控制，優(yōu)于其他單位數(shù)顯邊操作。

低溫脆性測(cè)定儀試驗(yàn)步驟：

1) 試驗(yàn)片的狀態(tài)調(diào)整：原則上應(yīng)把試驗(yàn)片放置在溫度23℃±2℃，相對(duì)濕度50%±5%的室內(nèi)40個(gè)小時(shí)以上.

2)試驗(yàn)室的溫濕度：溫度（常溫），濕度（常濕）

3)試驗(yàn)溫度范圍：-80℃ ∼ 常溫(標(biāo)準(zhǔn))

* 根據(jù)我公司的協(xié)商結(jié)果以外的溫度執(zhí)行也可以.

4) 傳熱媒體

通常使用的傳熱媒體有甲醇，無(wú)水乙醇等.

5)傳熱媒體的溫度調(diào)節(jié)：調(diào)節(jié)傳熱媒體時(shí)使用干冰，

6) 試驗(yàn)速度：2±0.2m/s.

試驗(yàn)片數(shù)：制作試驗(yàn)片數(shù)量應(yīng)對(duì)各溫度水準(zhǔn)要準(zhǔn)備10個(gè)以上. 溫度水準(zhǔn)在5∼6的話少需要50～60個(gè)試驗(yàn)片.

如果已知試驗(yàn)片的脆化溫度的話可以只測(cè)量5個(gè)試驗(yàn)片

試驗(yàn)倉(cāng):可以放入充分的傳熱媒體，倉(cāng)體采用隔熱材質(zhì)，可以讓傳熱媒體達(dá)到和維持均勻的溫度.儀器還設(shè)有讓試驗(yàn)片夾具和沖擊錘固定的結(jié)構(gòu)，溫度計(jì)和溫度調(diào)節(jié)器.

6) 溫度計(jì)(溫度檢測(cè)計(jì)): 采用±1℃精度的溫度計(jì)

1）為了將試驗(yàn)槽內(nèi)溫度降到設(shè)定溫度，使試樣在試驗(yàn)槽的中間部位充分侵漬，

放入足量的熱媒介，需要溫度上升時(shí)用加熱器進(jìn)行升溫已達(dá)到設(shè)定溫度。

2）A型試樣安裝在A型夾具，B型試樣安裝在B型夾具后，放置在試驗(yàn)槽內(nèi)。

備注：安裝試樣時(shí)要用扭矩扳手（2kgf·cm即0.19J扭矩）安裝。（為了避免人為誤差）

3）在每隔試驗(yàn)溫度階段需維持3min/±0.1min，擺錘以2±0.2m/s速度對(duì)試樣進(jìn)行一次沖擊，觀察試樣有無(wú)被破壞。做過(guò)一次試驗(yàn)的試樣不能重復(fù)利用。

4）為了求得催化溫度按照以下（A）記錄試樣被破壞個(gè)數(shù)。

（A）按照6 1）計(jì)算公式求得催化溫度的情況

在計(jì)算公式中求得脆化溫度時(shí)，從試樣全部被破壞的溫度開(kāi)始到全部都沒(méi)有被破壞的溫度

為止，以2℃、5℃或10℃間隔做10個(gè)試樣以上實(shí)驗(yàn)，記錄被破壞的試樣的個(gè)數(shù)。