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公司介紹主營產(chǎn)品

上海拓精工業(yè)測定儀器有限公司，是一家具有獨(dú)立進(jìn)出口權(quán)的股份制責(zé)任有限公司，公司成立于2005年，公司自成立以來致力于不斷提高品質(zhì)檢測水平并秉承“誠信合作，專業(yè)經(jīng)營，”的經(jīng)營理念，公司員工專業(yè)化，技術(shù)人員經(jīng)驗(yàn)豐富。我們還吸取了日本及歐美國家一些優(yōu)秀公司的*技術(shù)理念，利用堅(jiān)實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)，提供可靠的產(chǎn)品售前售中和售后服務(wù)；主要為汽車制造、航天航空業(yè)、第三方實(shí)驗(yàn)室、國家檢測機(jī)構(gòu)、高校院校研究所、化工制藥、醫(yī)療、能源等領(lǐng)域提供品質(zhì)檢測儀器設(shè)備、非標(biāo)自動化檢測設(shè)備及相關(guān)技術(shù)服務(wù)。

拓精儀器是一家專業(yè)實(shí)驗(yàn)室檢測分析儀器服務(wù)、銷售一體化股份制有限公司并同時代理國際檢測分析儀器，主要產(chǎn)品：實(shí)驗(yàn)室分析儀器、動態(tài)分析檢測儀器、光學(xué)檢測分析儀器、材料試驗(yàn)機(jī)、X- ray檢測分析儀器、環(huán)境試驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)箱、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備及工業(yè)儀器設(shè)備及耗材同時也為廣大客戶提供實(shí)驗(yàn)室綜合解決方案服務(wù)！公司的產(chǎn)品在眾多行業(yè)領(lǐng)域迅速推廣并得到客戶的認(rèn)可，公司將不斷的把的檢測設(shè)備及工業(yè)制造設(shè)備以最直接的方式傳達(dá)給我們的客戶，并幫助我們的客戶提高產(chǎn)品檢測能力和制造工藝。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

VersaXRM 730

VersaXRM 730 產(chǎn)品詳情

出色的分辨率與出眾的性能相得益彰—蔡司VersaXRM 730

蔡司Versa X射線顯微鏡功能強(qiáng)勁，是研究人員和科學(xué)家的可靠之選。Versa XRM提供直觀的用戶界面，確保每位用戶能夠充分提高工作效率并獲得滿意的結(jié)果。Versa XRM注重優(yōu)化實(shí)際設(shè)置中的真實(shí)分辨率，出眾的清晰度助您目盡毫厘。蔡司以出色的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，其對質(zhì)量的承諾在Versa XRM的每個細(xì)節(jié)中都得以充分體現(xiàn)。您的投資必定會經(jīng)受住時間的考驗(yàn)，解您未來之需。

相較市面上其他的X射線顯微鏡，蔡司VersaXRM730可提供更廣泛的選擇。該系統(tǒng)具有突破性的圖像分辨率性能，通過直觀的用戶體驗(yàn)全面提升操作便捷性并通過更高的通量和更快的結(jié)果獲取顯著提高效率。

蔡司VersaXRM™ 730配備特色的40×-Prime物鏡，可在30-160 kV的范圍內(nèi)提供450-500 nm分辨率的亞微米成像。其ZEN navx™自動化用戶導(dǎo)航和控制系統(tǒng)以及由人工智能驅(qū)動的DeepRecon Pro可簡化工作流、優(yōu)化圖像質(zhì)量并提高通量。為了提高操作便捷性，該設(shè)備經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，支持廣泛的用戶群體，讓您的整個團(tuán)隊(duì)都能輕松掌握高級研究功能。

出色的斷層掃描，時刻滿足每位用戶、各種樣品的多樣化需求

大工作距離高分辨率RaaD的多功能優(yōu)勢

蔡司Xradia Versa所提供的兩級放大技術(shù)實(shí)現(xiàn)了大工作距離下的高分辨率成像（RaaD），使您能夠更高效地研究各種尺寸的樣品，包括在原位樣品倉內(nèi)的樣品。

與傳統(tǒng)microCT相同，圖像首先通過幾何投影放大，隨后投射到閃爍體上，將X射線轉(zhuǎn)換為可見光圖像，然后通過顯微鏡光學(xué)元件進(jìn)行光學(xué)放大，最后由CCD探測器采集圖像。

降低了對幾何放大倍率的依賴，使蔡司Xradia Versa解決方案在較長工作距離內(nèi)也可保持低至500 nm的亞微米空間分辨率。

采用快速采集掃描技術(shù)（FAST）實(shí)現(xiàn)一分鐘斷層掃描

蔡司VersaXRM的FAST模式可通過連續(xù)的運(yùn)動掃描，快速對所有樣品進(jìn)行三維圖像采集。結(jié)合可選配的平板探測器（FPX），該模式可在X射線圖像采集過程中以各種角度進(jìn)行不間斷的樣品旋轉(zhuǎn)，降低了傳統(tǒng)步進(jìn)式采集模式的延時。這使得在曝光時間低于0.5秒（對于大型、靈敏的FPX探測器而言，通常是這種情況）時，掃描速度得到了顯著提升。預(yù)計(jì)采集時間一般在1分鐘內(nèi)至5分鐘，若對圖像質(zhì)量要求較為寬松，采集時間甚至可低于20秒。

得益于ZEN navx內(nèi)的Volume Scout工作流，F(xiàn)AST模式可對所有樣品進(jìn)行真正近乎實(shí)時的三維導(dǎo)航。FAST模式采集與Volume Scout無縫集成，可在復(fù)雜樣品中實(shí)現(xiàn)近乎即時的反饋，并對準(zhǔn)確的感興趣區(qū)域進(jìn)行真正的三維導(dǎo)航。

原味和思維研究突破科學(xué)進(jìn)步的極限

蔡司Versa X射線顯微鏡提供業(yè)內(nèi)優(yōu)異的三維成像解決方案，適用于高壓流動池、拉伸裝置、壓縮裝置以及熱臺等多種原位裝置。利用X射線研究的無損性質(zhì)，讓您的研究超越三維空間，擴(kuò)展到時間維度，實(shí)現(xiàn)四維實(shí)驗(yàn)。

這些研究要求樣品遠(yuǎn)離X射線源，以安放各種類型的原位裝置。在傳統(tǒng)的microCT系統(tǒng)中，這一要求大大限制了樣品能夠達(dá)到的分辨率。蔡司Versa XRM采用兩級放大架構(gòu)和大工作距離高分辨率（RaaD）技術(shù)，確保高分辨率原位成像。

蔡司Versa XRM平臺支持各種原位裝置，包括用戶自定義設(shè)計(jì)。您可以為蔡司Xradia XRM添加可選配的原位接口套件，包括機(jī)械集成套件、堅(jiān)固耐用的布線導(dǎo)槽和其他設(shè)施（饋入裝置），以及能夠在Versa Scout-and-Scan或ZEN navx用戶界面內(nèi)簡化控制的測試規(guī)程軟件。如果您的需求已經(jīng)超過了原位實(shí)驗(yàn)的分辨率極限，可將蔡司Xradia microCT或XRM升級為VersaXRM 730 X射線顯微鏡，并利用RaaD技術(shù)實(shí)現(xiàn)原位樣品倉或裝置內(nèi)樣品的高性能斷層掃描成像。

通過無損三維成像開始您的多尺度、多模式、多維顯微鏡分析

由于X射線的無損性及其成像樣品類型和尺寸的多樣性，關(guān)聯(lián)顯微鏡技術(shù)通常始于蔡司Versa XRM或由之實(shí)現(xiàn)。

使用Versa的“定位和放大”（Scout-and-Zoom）或Volume Scout功能，您可以在樣品受損前清晰定義感興趣區(qū)域（ROI），避免過早地切割樣品或進(jìn)行其他方式的樣品制備。無論是使用Versa物鏡系列（高達(dá)40×-P）、納米級蔡司Ultra XRM，還是蔡司光學(xué)、電子或FIB-SEM顯微鏡系列，都可以在大觀察視野下快速定位，然后以更高的分辨率放大到感興趣區(qū)域。這樣便可防止樣品過早損壞，同時將樣品完整背景信息與關(guān)鍵信息相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)高效的工作流程。

另外，它還可執(zhí)行內(nèi)部斷層掃描或以三維形式清晰觀察樣品內(nèi)部，進(jìn)一步降低了失去感興趣區(qū)域的風(fēng)險。準(zhǔn)確定位一個特定的“地址”，導(dǎo)航到該地址可進(jìn)行精準(zhǔn)高效的后續(xù)樣品檢測步驟，實(shí)現(xiàn)更高效率。

最后，在使用其他蔡司模式執(zhí)行進(jìn)一步分析（化學(xué)性質(zhì)、表面等）前，在不同的條件下，通過原位和四維研究以及隨時間的變化，對樣品進(jìn)行檢測。

利用蔡司提供的極為廣泛的顯微鏡解決方案，從無損三維X射線顯微技術(shù)開始，進(jìn)行多模態(tài)、多尺度、多維度分析。

關(guān)鍵詞：顯微鏡控制系統(tǒng) 斷層掃描成像

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