非飽和高壓加速老化試驗箱

產(chǎn)品詳情

該設(shè)備是一款用于電子、半導(dǎo)體、PCB、封裝材料等領(lǐng)域的高加速壽命測試系統(tǒng)。采用非飽和控制技術(shù)，在高壓高溫高濕環(huán)境下，通過調(diào)節(jié)蒸汽壓力與溫濕度，避免測試箱內(nèi)出現(xiàn)結(jié)露現(xiàn)象。箱體為立式或臥式結(jié)構(gòu)，配有不銹鋼內(nèi)膽、防爆門鎖與安全聯(lián)鎖裝置，支持可編程自動運行，能夠模擬潮濕、高壓環(huán)境下的產(chǎn)品老化過程，幫助用戶快速評估產(chǎn)品的可靠性及失效風(fēng)險。

非飽和高壓加速老化試驗箱

用途

主要用于集成電路、印刷電路板、多層板、半導(dǎo)體封裝、電容電阻、光伏組件、高分子材料等產(chǎn)品的加速耐濕性、抗腐蝕性及絕緣性能測試。特別適用于需要避免冷凝水干擾的精密電子元件老化試驗。通過短時間高壓高濕應(yīng)力，快速激發(fā)出產(chǎn)品在常規(guī)使用條件下數(shù)年的潛在缺陷，如離子遷移、電化學(xué)腐蝕、分層剝落、密封失效等，為研發(fā)改進(jìn)和質(zhì)量認(rèn)證提供數(shù)據(jù)支持。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：105℃ ～ 142℃（非飽和模式）

• 濕度范圍：75% ～ 100% RH（非結(jié)露控制）

• 壓力范圍：0.02 ～ 0.21 MPa（表壓）

• 溫度波動度：±0.5℃

• 濕度偏差：±3.0% RH

• 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS316L不銹鋼

• 控制器：7英寸彩色觸摸屏 + PLC可編程邏輯控制器

• 安全保護(hù)：超溫保護(hù)、超壓保護(hù)、缺水報警、自動泄壓、門鎖互鎖

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

箱體采用雙層結(jié)構(gòu)：外板為冷軋鋼板噴塑處理，內(nèi)膽為SUS316L高級不銹鋼，耐高壓耐腐蝕。保溫層使用高密度玻璃纖維或聚氨酯發(fā)泡材料，減少熱量散失。門體配備防爆鏈條與反壓門鎖，測試中自動鎖緊，壓力未歸零無法開啟。加熱系統(tǒng)位于箱體底部或側(cè)面，配有循環(huán)風(fēng)扇與純水自動補(bǔ)水裝置。箱內(nèi)設(shè)有防結(jié)露干燥系統(tǒng)，通過吹掃或飽和蒸汽壓調(diào)節(jié)，保持試品表面無液態(tài)水。

工作原理

基于飽和蒸汽壓與溫濕度關(guān)系的物理原理。設(shè)備通過加熱水產(chǎn)生高溫高壓蒸汽，由控制器精確調(diào)節(jié)箱內(nèi)的溫度與壓力，同時利用非飽和控制邏輯——在高壓環(huán)境下維持相對濕度低于100%（例如95% RH），從而避免水蒸氣凝結(jié)成液態(tài)水附著在樣品上。循環(huán)風(fēng)機(jī)將濕熱空氣均勻強(qiáng)制對流，使所有樣品表面接受相同的應(yīng)力。測試過程中，高壓促進(jìn)濕氣滲透進(jìn)入材料內(nèi)部或界面，加速離子遷移、水解反應(yīng)及物理膨脹，短時間內(nèi)激發(fā)出常規(guī)老化需要數(shù)月才能暴露的失效模式。

性能特點

• 真正非結(jié)露：采用智能濕度調(diào)節(jié)算法，測試全程樣品表面無水滴，不影響電性測試。

• 高壓快速老化：0.2 MPa左右壓力，可將測試時間縮短至原來的1/10～1/20。

• 安全聯(lián)鎖保護(hù)：三重超壓泄放、超溫斷電、缺水停機(jī)及門鎖安全互鎖。

• 自動補(bǔ)水運行：內(nèi)置純水箱與水位傳感器，支持長時間連續(xù)運行。

• 數(shù)據(jù)可追溯：實時記錄溫度、濕度、壓力曲線，支持USB或網(wǎng)絡(luò)導(dǎo)出。

技術(shù)優(yōu)勢

1. 解決結(jié)露痛點：傳統(tǒng)HAST易在樣品表面產(chǎn)生冷凝水導(dǎo)致短路或錯誤失效，非飽和技術(shù)避免此問題。

2. 更寬測試范圍：可在105～142℃、75%～100%RH內(nèi)任意設(shè)定，適應(yīng)不同標(biāo)準(zhǔn)的測試要求（如JESD22-A110）。

3. 高精度控制：溫濕度偏差極小，壓力波動穩(wěn)定，保證試驗重復(fù)性與可比性。

4. 節(jié)能與環(huán)保：高效保溫層與低耗加熱系統(tǒng)，運行成本低于傳統(tǒng)飽和型設(shè)備。

5. 操作簡便：全中文觸摸屏+一鍵啟動程序，支持多段式自動運行，減少人工干預(yù)。