JK-TDZT-04X型鐵介電性能綜合測(cè)試儀

一、儀器定義與核心原理

全稱鐵電 - 介電一體化綜合測(cè)試儀，是集鐵電強(qiáng)場(chǎng)極化測(cè)試與介電弱場(chǎng)頻譜 / 溫譜測(cè)試于一體的模塊化電學(xué)表征設(shè)備，專門測(cè)試鐵電、壓電、弛豫鐵電、無鉛壓電陶瓷、鐵電薄膜、多層儲(chǔ)能介質(zhì)等功能材料。

背景：高性能的鐵電材料是一類具有廣泛應(yīng)用前景的功能材料,從目前的研究現(xiàn)狀來看,對(duì)于具有高性能的鐵電材料的研究和開發(fā)應(yīng)用仍然處于發(fā)展階段.研究者們選用不同的鐵電材料進(jìn)行研究,并不斷探索制備工藝,只是到目前為止對(duì)于鐵電材料的一些性能的研究還沒有達(dá)到令人滿意的地步.比如,用于制備鐵電復(fù)合材料的陶瓷粉體和聚合物的種類還很單一,對(duì)其復(fù)合界面的理論研究也剛剛開始,鐵電記憶器件抗疲勞特性的研究還有待發(fā)展。

主要技術(shù)參數(shù)：

1.*內(nèi)置電壓:0~士500V硬件內(nèi)置高壓輸出，具備過壓、短路、過流硬件保護(hù)

2.*頻率范圍:20HZ-500KHZ

3. 精度:0.05%

4、測(cè)試樣品:標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試樣品8組(薄膜+塊體)

5、標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)：額定電壓:30V，靈敏度:≥85，額定阻抗:≤450(Ω。

6*、探針:柔性豎向探針+橫向探針探針壓力可調(diào)，防劃傷薄膜電極

7、電荷解析度不小于10mC

8、分析軟件:飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流，介電，電阻等參數(shù).

9、采樣時(shí)間:》5S

10、輸出阻抗:30，1002可選

11、樣品臺(tái)空間:3cm*3cm

12、內(nèi)部可設(shè)置存儲(chǔ)不低于 20 組，波形存儲(chǔ)不低于 24 組，可另存到 U 盤。

13、軟件功能：軟件全程控制主機(jī)輸出電壓、測(cè)試頻率、輸出阻抗檔位、采樣時(shí)長、波形類型；支持自定義脈沖寬度、循環(huán)次數(shù)、升壓速率，采樣積分時(shí)間軟件自由設(shè)置，單次采樣時(shí)長可設(shè)置 5s 以上；硬件聯(lián)動(dòng)高壓過壓、短路、超流自動(dòng)保護(hù)，異常工況實(shí)時(shí)彈窗告警并自動(dòng)切斷高壓輸出，測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)緩存防丟失。

14、拓展接口：可接變溫樣品臺(tái)、壓電激光干涉儀、高壓拓展模塊通訊接口，支持后續(xù)功能升級(jí)擴(kuò)展；整機(jī)標(biāo)配配套測(cè)試線纜、屏蔽夾具、校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件。

15、全品類測(cè)試模塊與參數(shù)自動(dòng)解析：集成多套標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試算法，一鍵自動(dòng)擬合、計(jì)算并輸出核心材料參數(shù)：

16、軟件本地工程存儲(chǔ)：所有測(cè)試方案、樣品信息、原始波形、擬合參數(shù)、曲線圖片統(tǒng)一打包保存，支持歷史工程一鍵調(diào)取、重復(fù)復(fù)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)；

17、離線導(dǎo)出功能：全部原始數(shù)據(jù)、計(jì)算參數(shù)、曲線圖表可批量另存至 U 盤或本地電腦，報(bào)告可自定義實(shí)驗(yàn)名稱、樣品編號(hào)、測(cè)試人員、實(shí)驗(yàn)條件等表頭信息；

18、批量導(dǎo)出：支持多組波形、多批次測(cè)試數(shù)據(jù)一次性打包導(dǎo)出，無需單條手動(dòng)保存。