X熒光光譜儀,RoHS及無鹵檢測儀,XRF檢測儀

產品名稱：X熒光光譜儀

產品型號：NDA200

品牌：納優(yōu)

主要配置

● 美國si-pin電致冷半導體探測器

●側窗鉬（Mo）靶管

● 采用Be窗的X光管可以顯著提高低能X射線出射長度

● 具備符合中國國家標準的樣品混測功能

● 具備開放工作曲線技術平臺

● 分析軟件操作系統(tǒng)分級管理

產品參數(shù)

名稱：X熒光光譜儀

輸入電壓：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

環(huán)境溫度:15-30℃

環(huán)境溫度：≤80%（不結露）

主機外形（mm）：長*寬*高＝900*500*440

樣品倉：長*寬*高＝430*380*120

主機重量:約60公斤

技術指標

測量元素范圍：S-U

測量時間：對聚合物材料，典型測量時間為200秒

精密度 （Pb,Br,Cr,Hg）≤15ppm    Cd≤7ppm

準確度（Pb,Br,Cr,Hg）≤100ppm   Cd≤10ppm

對銅基材料，典型測量時間為400秒

精密度Pb≤50ppm, 準確度Pb≤150ppm

*注1：項目課題：出口機電產品綠色貿易壁壘應對技術及應用；子課題：支持RoHS指令的新型X熒光分析儀開發(fā)與企業(yè)應用；項目組織單位：*；課題負責人：楊李鋒（納優(yōu)科技公司總）。

*注2：《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規(guī)范》為范圍內首部用于評價能量色散X熒光光譜儀的性能的參照范本，其中包括：安全性能、儀器硬件基本性能指標及分析方法配置、精密度指標測試、準確度指標測試、典型材料（聚合物、金屬等）中各種有害元素的檢出限、儀器對不同基體材料測量的適應性和擴展性及其它性能參數(shù)等測試項目以及儀器性能評價步驟等，對于X熒光光譜儀生產廠家和購買儀器的用戶均有實際參考指導意義。

*注3：該檢測必須“一機一檢”，其檢測內容、方法及步驟等均以《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規(guī)范》（見注2）為準。檢測報告也稱儀器檢測鑒定證書，該證書zui大的特點就是“*性”，一機一證，證書封頁注明儀器出廠編號、檢測報告編號的同時，需蓋有檢測執(zhí)行單位賽西實驗室的試驗報告章、中國合格評定國家認可委員會檢測章、MAC及MRA檢測章；證書*頁蓋有賽西實驗室的試驗報告章；整份證書需蓋有賽西實驗室矩形騎縫章印。