X熒光光譜儀，元素分析儀器，鍍層測厚儀

NaU-E610

通用分析類EDXRF    集成型：RoHS與無鹵分析檢測

納優(yōu)科技NaU-E610型X熒光光譜儀技術參數：

測試對象：粉未、固體、液體

分析元素范圍：S-U

測試時間：100-200s

管壓：10KV-50KV

管流：50uA-1000uA

*分辨率：149±5eV

zui低檢出限： Cd/Cr/Hg/Br≤2ppmPb≤5ppmCl≤60ppm

輸入電源 ： AC 220V±10%,50Hz （建議配置凈化穩(wěn)壓電源）

額定功率：300W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：30%-80%

樣品腔尺寸：400mm×400mm×100mm

外形尺寸：730mm×440mm×330mm

重量：35Kg

納優(yōu)科技NaU-E610型X熒光光譜儀配置明細：

X熒光光譜儀光管

高分辨率電制冷半導體探測器

鹵素測試系統(tǒng)

多道分析器

增益放大器

儀器與計算機一體聯(lián)合模塊

零至滿量程可調諧式高壓電源

光管散熱系統(tǒng)（技術）

光路優(yōu)化系統(tǒng)

復合濾光處理系統(tǒng)

內置高清晰CCD攝像頭

自動切換準直器和濾光片（技術）

全自動定位測試系統(tǒng)

樣品倉自動開關裝置

三重安全保護模式

標樣

計算機

打印機

*概述：

NaU-E系列能量色散X射線熒光光譜儀是納優(yōu)科技（北京）有限公司研發(fā)團隊30多年X熒光分析領域技術沉淀及理念革新的力作，其技術源于納優(yōu)科技公司研發(fā)團隊于2008年7月承接的“十一五”國家科技支撐計劃項目——綠色制造關鍵技術與裝備（*注1），系列產品均滿足中華人民共和國工業(yè)和信息化產業(yè)部于2009年7月3日頒布的《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規(guī)范》（*注2），是迄今為止*獲得由*電子信息產品污染控制技術促進中心、中國合格評定國家認可委員會、中國電子技術標準化研究所以及賽西實驗室等聯(lián)合頒發(fā)的檢測報告暨儀器檢測鑒定證書（*注3）的X熒光光譜儀產品。其中，代表性意義的為NaU-E600及NaU-E800型EDXRF，前者是業(yè)界實現RoHS及鹵素（著重于氯元素的檢出和測試）一體化測試的新型能量色散X射線熒光光譜儀；后者的研制成功，標志著國內X熒光光譜儀制造企業(yè)*掌握了偏振二次靶X熒光光譜儀的研發(fā)、生產工藝技術，打破美、日、德、英等發(fā)達國家對中國企業(yè)在該領域近20年的技術封鎖和壟斷。二者的成功面市，是納優(yōu)科技公司從以往“量”性市場策略邁向“質”性產品戰(zhàn)略的轉折點，此外，產品的簡練外觀設計及注重配置性能等特點也很好地體現了這一點！

隨著各經濟共同體以及越來越多的國家出臺眾多環(huán)保管控舉措，納優(yōu)科技公司與各受限企業(yè)面臨同樣的壓力！正是這種壓力，使得納優(yōu)科技研發(fā)團隊重新整合相關資源，攻克重重難關，研制出NDA系列能量色散X射線熒光光譜儀，與各受限企業(yè)共同應對日益嚴格的環(huán)保限令管控。

*注1：項目課題：出口機電產品綠色貿易壁壘應對技術及應用；子課題：支持RoHS指令的新型X熒光分析儀開發(fā)與企業(yè)應用；項目組織單位：*；課題負責人：楊李鋒（納優(yōu)科技公司總）。

*注2：《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規(guī)范》為范圍內首部用于評價能量色散X熒光光譜儀的性能的參照范本，其中包括：安全性能、儀器硬件基本性能指標及分析方法配置、精密度指標測試、準確度指標測試、典型材料（聚合物、金屬等）中各種有害元素的檢出限、儀器對不同基體材料測量的適應性和擴展性及其它性能參數等測試項目以及儀器性能評價步驟等，對于X熒光光譜儀生產廠家和購買儀器的用戶均有實際參考指導意義。

*注3：該檢測必須“一機一檢”，其檢測內容、方法及步驟等均以《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規(guī)范》（見注2）為準。檢測報告也稱儀器檢測鑒定證書，該證書zui大的特點就是“*性”，一機一證，證書封頁注明儀器出廠編號、檢測報告編號的同時，需蓋有檢測執(zhí)行單位賽西實驗室的試驗報告章、中國合格評定國家認可委員會檢測章、MAC及MRA檢測章；證書*頁蓋有賽西實驗室的試驗報告章；整份證書需蓋有賽西實驗室矩形騎縫章印。