RoHS及無鹵檢測儀，鍍層測厚儀

產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀

產(chǎn)品型號：NaU1000

品牌：納優(yōu)

主要配置

● 美國si-pin電致冷半導(dǎo)體探測器

●側(cè)窗鉬（Mo）靶管

●標(biāo)配12組復(fù)合濾光片

● 采用Be窗的X光管可以顯著提高低能X射線出射長度

● 具備符合中國國家標(biāo)準(zhǔn)的樣品混測功能

● 具備開放工作曲線技術(shù)平臺

● 分析軟件操作系統(tǒng)分級管理

產(chǎn)品參數(shù)

名稱：X熒光光譜儀

輸入電壓：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

環(huán)境溫度:15-30℃

環(huán)境溫度：≤80%（不結(jié)露）

主機外形（mm）：長*寬*高＝820*500*425

樣品倉：長*寬*高＝430*380*105

主機重量:約55公斤

技術(shù)指標(biāo)

測量元素范圍：S-U

測量時間：對聚合物材料，典型測量時間為200秒

精密度 （Pb,Br,Cr,Hg）≤15ppm    Cd≤7ppm

準(zhǔn)確度（Pb,Br,Cr,Hg）≤100ppm   Cd≤10ppm

對銅基材料，典型測量時間為400秒

精密度Pb≤50ppm, 準(zhǔn)確度Pb≤150ppm

*注1：項目課題：出口機電產(chǎn)品綠色貿(mào)易壁壘應(yīng)對技術(shù)及應(yīng)用；子課題：支持RoHS指令的新型X熒光分析儀開發(fā)與企業(yè)應(yīng)用；項目組織單位：*；課題負(fù)責(zé)人：楊李鋒（納優(yōu)科技公司總）。

*注2：《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規(guī)范》為范圍內(nèi)首部用于評價能量色散X熒光光譜儀的性能的參照范本，其中包括：安全性能、儀器硬件基本性能指標(biāo)及分析方法配置、精密度指標(biāo)測試、準(zhǔn)確度指標(biāo)測試、典型材料（聚合物、金屬等）中各種有害元素的檢出限、儀器對不同基體材料測量的適應(yīng)性和擴展性及其它性能參數(shù)等測試項目以及儀器性能評價步驟等，對于X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家和購買儀器的用戶均有實際參考指導(dǎo)意義。

*注3：該檢測必須“一機一檢”，其檢測內(nèi)容、方法及步驟等均以《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規(guī)范》（見注2）為準(zhǔn)。檢測報告也稱儀器檢測鑒定證書，該證書zui大的特點就是“*性”，一機一證，證書封頁注明儀器出廠編號、檢測報告編號的同時，需蓋有賽西實驗室矩形騎縫章印。