ESG-1電子散斑干涉儀

（可根據(jù)用戶要求定制）

電子散斑干涉儀，英文全稱Electronic Speckle Pattern Interferometer，簡稱ESPI，它是計算機技術(shù)、圖象處理技術(shù)、激光、散斑及全息干涉等相結(jié)合的一種*技術(shù)。它有著廣泛的應(yīng)用前景。

基本原理是：當(dāng)相干性很好的激光照射在被測物的表面，在表面前方的空間形成隨機分布的明暗點—散斑點，散斑隨物體表面的變形（或移動）而運動，計錄物體變形前后兩個錯動了的散斑圖，并比較變形前后散斑圖的變化，可以高精度地檢測物體表面各點位移。

用CCD首先取得加載前的*幅圖像，然后加載并取得第二幅圖像，利用圖像卡AD轉(zhuǎn)化成數(shù)據(jù)（數(shù)值化）輸入計算機，通過程序使得兩幅圖像相減，zui后可以直接在電腦屏幕上觀察到與變形相關(guān)的干涉條紋。

本儀器可以實現(xiàn)純粹的w、u及剪切（ESSPI）的圖像采集及處理，采用時間相移技術(shù)，從而使結(jié)果可以數(shù)字化輸出。

一、儀器配置及參數(shù)

成像*距離800mm，成像距離范圍300~1500mm，測量面積≥300mm2；

測量靈敏度：0.5λ~20λ；

氦氖激光器及調(diào)節(jié)支架：內(nèi)腔式，功率大于2.5mw， 波長633nm， 紅色氦氖激光；

二維電子散斑干涉儀本體：鋁合金陽極氧化發(fā)黑，外形尺寸（300*150*140mm3）；

全反射鏡及其調(diào)節(jié)架：λ/4高能全反射鏡，反射率≧99%；

分光棱鏡及底座：20mm3，分光比1:1±5%；

磁性座：鑄鐵材質(zhì)，吸力60kg；

帶有相移器的W場分光元件：橢圓半反半透鏡，分光比1:1±5%；

ZOOM成像鏡及固定裝置：f50定焦，相對孔徑1：1.8；

模擬CCD及電源：日本W(wǎng)atec902H，Watec-902H、靈敏度0.01流明、分辨率570線；

進口圖像采集卡及配套線纜：加拿大Cronasplus圖像采集卡；

進口相移驅(qū)動器：相移靈敏度:   ∽20nm/V；

晶體錯位鏡：Wollaston棱鏡，剪切角度0.5度，帶有鋁合金外框及相移平移支架；

線偏振鏡：

定量加載系統(tǒng)：拉壓彎三種載荷模擬及相應(yīng)自由度調(diào)節(jié)機構(gòu)，帶有力傳感器及數(shù)碼顯示；

力傳感器：量程1500N、精度±1N；

圖像采集、處理及計算軟件：結(jié)果可以圖像數(shù)字化輸出；

• 選配件

• 隔振臺：0.8m×1.6m；臺高800mm、主動式氣墊隔振、5Hz；

B） 模擬加載系統(tǒng)：周邊固定受中心載荷圓盤可繞中心旋轉(zhuǎn)試件；