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深圳市美程精密電子有限公司
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臺式X熒光光譜儀價(jià)格2021/10/28
臺式X熒光光譜儀價(jià)格產(chǎn)品介紹臺式X熒光光譜儀價(jià)格由深圳市美程精密電子有限公司現(xiàn)貨銷售臺式X熒光光譜儀價(jià)格,XAU系列熒光光譜儀是一機(jī)多用型光譜儀,應(yīng)用了核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚的性能,又可滿足微區(qū)ROHS檢測及成分分析。性能優(yōu)勢:1.微小樣品檢測:*小測量面積0.03mm2(加長測量時(shí)間可小至0.01mm2)2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-30mm3.*的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元素,甚至
XTD-200全自動(dòng)鍍層測厚儀2021/10/28
XTD-200全自動(dòng)鍍層測厚儀儀器簡介:XTD-200是一款于檢測各種異形件,特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對平面、微小樣品的檢測,在面對凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢;搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺,無人值守,便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。儀器簡介:XTD-200是一款于檢測各種異形件,特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表
二手菲希爾鍍層測厚儀轉(zhuǎn)讓2021/10/28
二手菲希爾鍍層測厚儀轉(zhuǎn)讓,臺式X熒光光譜儀價(jià)格產(chǎn)品介紹臺式X熒光光譜儀價(jià)格由深圳市美程精密電子有限公司現(xiàn)貨銷售臺式X熒光光譜儀價(jià)格,XAU系列熒光光譜儀是一機(jī)多用型光譜儀,應(yīng)用了核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚的性能,又可滿足微區(qū)ROHS檢測及成分分析。基本參數(shù)FISCHER德國菲希爾型號xdlm237新舊程度9成新加工定制寬×深×高[mm]:570×760×650,內(nèi)部尺寸寬×深×高[mm]:460×495x類型X射線熒光光譜測厚儀材料105kgfische
X熒光光譜儀XTD測厚儀2021/10/28
X熒光光譜儀XTD測厚儀儀器簡介:XTD是一款于檢測各種異形件,特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對平面、微小樣品的檢測,在面對凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。技術(shù)參數(shù):1.元素分析范圍:氯(Cl)-鈾(U)2.涂鍍層分析范圍:氯(Cl)/鋰(Li)-鈾(U)3.厚度*低檢出限:0.005μm4.成分*低檢出限:1ppm5.*小測量直徑0.0
XRF電鍍層測厚儀2021/10/28
臺式X熒光光譜儀價(jià)格XRF電鍍層測厚儀XRF電鍍層測厚儀由深圳市美程精密電子有限公司現(xiàn)貨銷售臺式X熒光光譜儀價(jià)格,XAU系列熒光光譜儀是一機(jī)多用型光譜儀,應(yīng)用了核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚的性能,又可滿足微區(qū)ROHS檢測及成分分析。性能優(yōu)勢:1.微小樣品檢測:*小測量面積0.03mm2(加長測量時(shí)間可小至0.01mm2)2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-30mm3.*的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元
二手菲希爾fischer膜厚儀2021/10/28
二手fischer膜厚儀基本參數(shù)FISCHER德國菲希爾型號xdlm237新舊程度9成新加工定制寬×深×高[mm]:570×760×650,內(nèi)部尺寸寬×深×高[mm]:460×495x類型X射線熒光光譜測厚儀材料105kgfischer產(chǎn)地德國型號xdlm237元素范圍氯Cl(17)至鈾U(92)–同時(shí)多達(dá)24種元素設(shè)計(jì)用途能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)用于確定薄涂層,小結(jié)構(gòu),痕跡和合金。設(shè)計(jì)理念臺式儀器,測量門向上開啟測量方向由上往下X射線源帶鈹窗口的鎢管高壓可調(diào):30kV,40kV,
XAU-4CS元素分析儀膜厚分析儀2021/10/28
XAU-4CS元素分析儀膜厚分析儀性能優(yōu)勢:1.微小樣品檢測:*小測量面積0.03mm2(加長測量時(shí)間可小至0.01mm2)2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-30mm3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可*測量。4.*的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。5.高性能探測器:SDDXAU-4CS元素分析儀膜厚分析儀技術(shù)參數(shù)測量面積:*小0.03mm2鍍層分析:23層鍍層24種元素儀器特點(diǎn):RoHS鹵素有
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