4-20ma信號無線遠(yuǎn)傳到控制室，求方案？
我的水庫現(xiàn)場有一臺儀表，輸出4-20ma信號，想通過無線遠(yuǎn)傳到2000米外的控制室，求推薦一款產(chǎn)品？
木木|2015-03-26|瀏覽 514 次
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儀表網(wǎng)問答小助理 |發(fā)布于：2015-03-30
參考資料-
超微量分光光度計選購攻略：主流國產(chǎn)廠家推薦與對比
一、引言在分子生物學(xué)、生物化學(xué)及臨床檢驗等領(lǐng)域的日常實驗中，核酸與蛋白質(zhì)的定量分析是基礎(chǔ)環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)紫外可見分光光度計通常需要數(shù)十至數(shù)百微升的樣品量，對于來之不易的珍貴樣本而言，這一要求往往成為實驗瓶頸。超微量分光光度計的出現(xiàn)改變了這一局面——僅需0.5至2微升樣品，即可在數(shù)秒內(nèi)完成核酸、蛋白質(zhì)濃度的測定，同時給出純度比值等關(guān)鍵質(zhì)量指標(biāo)。近年來，國產(chǎn)超微量分光光度計在技術(shù)成熟度和產(chǎn)品豐富度上均取得了顯著進(jìn)步，越來越多的實驗室開始將目光轉(zhuǎn)向國產(chǎn)設(shè)備。本文從技術(shù)特征出發(fā)，梳理七家具有代表性的國產(chǎn)廠家及 -
選購恒溫恒濕試驗箱時，這五個技術(shù)參數(shù)千萬別忽略
在電子、汽車、新能源等行業(yè)，恒溫恒濕試驗箱是產(chǎn)品可靠性驗證的基礎(chǔ)設(shè)備。但采購時容易陷入兩個誤區(qū)：要么被各種參數(shù)術(shù)語繞暈，要么只盯著箱體尺寸和報價做決定。實際上，有五個技術(shù)參數(shù)直接決定了設(shè)備能否穩(wěn)定復(fù)現(xiàn)測試條件，值得花時間逐一確認(rèn)。一、溫濕度均勻度：箱內(nèi)各點是否“同此涼熱”均勻度反映的是箱內(nèi)不同位置與中心點的溫濕度差異。如果均勻度不達(dá)標(biāo)，同一批樣品放在箱內(nèi)不同位置，可能得到不一致的結(jié)果。溫度均勻度通常要求控制在±2℃以內(nèi)，濕度均勻度控制在±3%RH以內(nèi)。這一指標(biāo)受風(fēng)道設(shè)計和氣流循環(huán)方式影響較大。選 -
光伏組件濕熱環(huán)境耐久性測試與數(shù)據(jù)解讀
光伏電站長期部署于沿海、南方多雨地區(qū)，組件持續(xù)承受高溫高濕應(yīng)力，水汽滲透、材料水解、金屬腐蝕會影響發(fā)電性能。濕熱耐久性測試通過加速老化，在實驗室復(fù)刻長期濕熱工況，評估封裝結(jié)構(gòu)、電池電路與背板耐候性，為選材和工藝優(yōu)化提供依據(jù)。一、測試原理與標(biāo)準(zhǔn)條件濕熱測試常稱“雙85”測試，參考IEC61215、GB/T9535等標(biāo)準(zhǔn)，將組件置于85℃、相對濕度85%環(huán)境中持續(xù)1000小時。溫濕共同作用下，水汽沿背板、封邊、膠層界面滲入，加速EVA水解，產(chǎn)生酸性物質(zhì)腐蝕柵線與匯流帶，并導(dǎo)致脫層、氣泡、背板變色等。 -
軍工設(shè)備環(huán)境適應(yīng)性測試：如何模擬高低溫與淋雨綜合環(huán)境？
軍工設(shè)備在野外、戶外等場景服役時，會同時承受溫度變化與雨水沖刷的復(fù)合環(huán)境作用。單一環(huán)境測試只能驗證產(chǎn)品對某一類環(huán)境應(yīng)力的耐受能力，高低溫與淋雨綜合環(huán)境測試能夠復(fù)現(xiàn)設(shè)備在實際使用中遇到的溫變疊加降水工況，挖掘產(chǎn)品外殼密封、材料性能、電氣連接等方面存在的隱患，為設(shè)備結(jié)構(gòu)優(yōu)化、密封方案調(diào)整提供試驗支撐。一、高低溫+淋雨綜合環(huán)境測試的應(yīng)用意義設(shè)備在溫度交替變化之后，外殼、密封件會產(chǎn)生熱脹冷縮形變。此時疊加雨水噴淋，水分更容易沿著縫隙滲入設(shè)備內(nèi)部，引發(fā)絕緣下降、金屬部件銹蝕、電路短路等問題。采用綜合環(huán)境試 - 溫度波動會使芯片內(nèi)部材料熱脹冷縮，產(chǎn)生界面應(yīng)力、封裝開裂、參數(shù)漂移等失效。溫度可靠性驗證用于評估芯片在溫變環(huán)境下的穩(wěn)定性，為設(shè)計優(yōu)化和量產(chǎn)質(zhì)控提供依據(jù)。一、核心試驗項目高低溫循環(huán)試驗樣品按預(yù)設(shè)溫區(qū)、升降溫速率和駐留時間循環(huán)，承受反復(fù)熱應(yīng)力，暴露封裝、焊球、引線等缺陷。記錄循環(huán)次數(shù)與電氣參數(shù)，功能異?；虺?guī)判失效。用于篩選封裝工藝缺陷，評估長期溫變耐受能力。參考GJB150B、IEC60068等。高低溫存儲試驗樣品不通電，在恒定高溫或低溫下長時間靜置，恢復(fù)常溫后電測。模擬倉儲、運輸工況，檢驗封裝材
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