熊先生
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J-RAS中國(guó)代理商導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置RTm-30DC
J-RAS中國(guó)總代離子遷移試驗(yàn)裝置HVUα-1000V
J-RAS中國(guó)總代離子遷移試驗(yàn)裝置ECM-100
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 是 |
|---|

100n秒以下の高速イベント計(jì)測(cè)機(jī)能で部分放電も検出(抵抗値データと同時(shí)計(jì)測(cè)も可能)
CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別制御で全CHに異なる印加電圧設(shè)定が可能
機(jī)械式リレーによるスキャンが無(wú)いので連続試験中の故障やトラブル無(wú)し
短絡(luò)検出回路のCH個(gè)別搭載で瞬間的なサンプル短絡(luò)にも追従
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計(jì)測(cè)を?qū)g現(xiàn)(計(jì)測(cè)側(cè))
専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
5チャンネル?yún)g位で需要に応じてシステム構(gòu)成可能
?電圧デバイスの絶縁信頼性評(píng)価、パワーモジュールの連続耐圧評(píng)価、プリント基板の耐マイグレーション性能評(píng)価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評(píng)価。
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