詳細摘要： OPTM系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、...
產(chǎn)品型號：OPTM所在地：國外更新時間：2022-09-29 在線留言
大塚電子（蘇州）有限公司
大塚電子（蘇州）有限公司
詳細摘要： OPTM系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、...
產(chǎn)品型號：OPTM所在地：國外更新時間：2022-09-29 在線留言
詳細摘要： SF-3晶圓厚度測量儀使用分光干涉法原理，可對硅厚度、碳化硅厚度、氮化硅厚度、藍寶石厚度等多種特殊材料實現(xiàn)高速無損、非接觸式測量，可用于晶圓減薄過程中的厚度實時...
產(chǎn)品型號：SF-3所在地：國外更新時間：2021-06-17 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網(wǎng) 設計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼