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賽默飛世爾科技
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Helios 6 HD Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope
詳細摘要:The Thermo Scientific Helios 6 HD FIB-SEM is designed to meet the industry need for higher volumes of high-quality TEM data for failure analysis and metrology. This latest addition to the Thermo Scie......
產(chǎn)品型號:Thermo Scientific所在地: 參考價:面議
用于半導體的 Helios G4 PFIB UXe DualBeam
詳細摘要:Thermo Scientific Helios G4 PFIB UXe DualBeam 系統(tǒng)提供獨特的功能,除廣泛的其他大面積 FIB 處理應用外,還能夠?qū)崿F(xiàn)半導體器件的無損傷延遲和 3D 封裝的高級故障分析。
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用于半導體的 Helios™ G4 PFIB CXe DualBeam™
詳細摘要:Helios G4 PFIB CXe DualBeam 系統(tǒng)使您能夠: 使用具有高電流 UC+ 單色器技術的 Elstar SEM 電子鏡筒,可獲得納米級 SEM 圖像分辨率和表面靈敏度,從而顯示較為細致的細節(jié)信息。使用新一代 2.5 微安 氙等離子體 FIB (PFIB 2.0) 鏡筒,可進行較高通量和質(zhì)量相關 3D 表征、橫向切片和微加工。由于 PFIB 2.0 鏡筒在所有操作條件下均具......
產(chǎn)品型號:Thermo Scientific所在地: 參考價:面議
用于半導體的 Helios™ G4 PFIB Hxe DualBeam™
詳細摘要:Thermo Scientific Helios G4 PFIB HXe DualBeam 系統(tǒng)提供獨特的功能,除廣泛的其他大面積 FIB 處理應用外,還能夠?qū)崿F(xiàn) 10 nm 半導體器件的無損傷延遲和 3D 封裝的高級故障分析。
產(chǎn)品型號:Thermo Scientific所在地: 參考價:面議
用于材料科學的 Helios™ G4 PFIB CXe DualBeam™ FIB/SEM
詳細摘要:Thermo Scientific Helios G4 PFIB 可提供優(yōu)異的大體積 3D 表征、無 Ga+ 樣品制備和精密微加工能力。Helios G4 PFIB CXe 是行業(yè)的 Helios DualBeam 系列第四代產(chǎn)品的一部分。它將新型 PFIB 2.0 鏡筒和 Thermo Scientific 單色 Elstar SEM 鏡筒相結合,可實現(xiàn)的聚焦離子和電子束性能。 直觀的......
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用于半導體的 Helios G4 CX DualBeam
詳細摘要:通常需要進行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結構和性質(zhì)。Thermo Scientific Helios G4 CX DualBeam 顯微鏡的創(chuàng)新,結合較易使用、較全面的軟件和賽默飛世爾科技的應用專業(yè)知識,使 Helios G4 CX DualBeam 與可選的 AS&V4 軟件可獲得較高質(zhì)量、全自動采集的多模態(tài) 3D 數(shù)據(jù)集。結合 Avizo 可視化軟件,它可提供獨特的工作流程解決方......
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用于半導體的 Helios G4 UC DualBeam
詳細摘要:科學家和工程師不斷面臨新的挑戰(zhàn)、需要對越來越復雜的樣品的更小特征進行高度局部表征。Thermo Scientific HeliosG4 UC DualBeam 顯微鏡的較新技術創(chuàng)新,結合較易使用、較全面的軟件和賽默飛世爾科技的應用專業(yè)知識,可為廣泛的材料較快速、較容易地制備 HR-s/TEM 樣品。
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用于半導體的 Themis™ S S/TEM
詳細摘要:Thermo Scientific Themis S S/TEM 是一款 80–200kV 掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM),專為半導體設備的高速成像和分析而設計。Themis S TEM 作為業(yè)界標準 Themis 系列新成員,將繼承較佳空間分辨率和較高效化學分析的獨特組合。
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用于半導體的 Helios™ NanoLab™ 1200AT DualBeam™
詳細摘要:Thermo Scientific Helios NanoLab 1200AT DualBeam 可以創(chuàng)建足夠薄的位點特異性透射電子顯微鏡 (TEM) 樣品,以從直徑達 300 mm 的晶片中在 10 nm 節(jié)點處捕獲單個晶體管。可選的自動 FOUP 裝載器 (AFL) 允許系統(tǒng)位于半導體晶片制造廠內(nèi)部,在那里它可以提供比基于實驗室的分析快達三倍的關鍵信息。
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用于半導體的 Helios™ G4 HX DualBeam™
詳細摘要:Thermo Scientific Helios G4 HX DualBeam 顯微鏡取代了高度成功的 Helios 460HP,成為行業(yè)較高通量、專用透射電子顯微鏡 (TEM) 片晶制備平臺。Helios G4 HX DualBeam 利用具有權的倒置 TEM 樣品制備方法,為較的半導體節(jié)點創(chuàng)建高質(zhì)量的片晶。Helios G4 HX DualBeam 集成了 EasyLift EX 納米......
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用于材料科學的 Helios 5 CX DualBeam
詳細摘要:Thermo Scientific Helios 5 CX DualBeam 是行業(yè)的 Helios DualBeam 系列第五代產(chǎn)品的一部分。它經(jīng)過精心設計,以滿足科學家和工程師的需求,結合了創(chuàng)新的 Elstar 電子鏡筒(可實現(xiàn)較高分辨率成像和較高的材料對比度)與的 Thermo Scientific Tomahawk HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒(用于較快、較容易和較精確的高......
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CleanMill Broad Ion Beam System
詳細摘要:High-quality observation and characterization of materials often require an artifact-free surface, which can be difficult to achieve with traditional polishing techniques like grinding or mechanical p......
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Scanning Transmission Electron Microscopy Sample Holder for Desktop SEM
詳細摘要:The Phenom scanning transmission electron microscopy Sample Holder for Pharos is a game-changer for researchers in a variety of fields, including battery, metals and alloys, catalysts, nanomaterials, ......
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用于半導體的 Helios G4 UX DualBeam
詳細摘要:Thermo Scientific Helios G4 DualBeam 顯微鏡的較新技術創(chuàng)新,結合較易使用、較全面的軟件和賽默飛世爾科技的應用專業(yè)知識,可為廣泛的材料較快速、較容易地制備位點特異性、超薄 HR-S/TEM 樣品。為了獲得較高的質(zhì)量結果,需要使用非常低能量的離子進行最終拋光,以盡可能減少對樣品表面的損壞。Thermo Scientific 較的 Phoenix 聚焦離子束 (F......
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樹脂安裝插件
詳細摘要:Thermo Scientific 樹脂安裝插件具有一些獨特的優(yōu)勢。樣品夾持非常直,所有樣品都具有相同的工作距離,這在進行能譜 (EDS) 分析時非常有用。
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濾芯
詳細摘要:通常用于過濾器殘留分析和石棉分析的濾紙樣品必須牢固且平坦地安裝在 SEM 系統(tǒng)中,以進行正確分析。由于濾紙是一種敏感的樣品材料,不使用插件安裝這些樣品可能會導致樣品折疊和損壞。使用傳統(tǒng)的(通常是高粘性的)碳膠帶不能實現(xiàn)樣品在后續(xù)分析中重新使用。適用于 Thermo Scientifc Phenom XL 的 Thermo Scientifc 過濾器插件有兩種型號,支持 47 mm(1.85 英寸)......
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AutoTEM 5 軟件
詳細摘要:TEM 樣品制備是顯微鏡使用者所遇到的費力和嚴苛的過程。生成一致且可靠的 TEM 薄片在過去需要用到高級 DualBeam 操作員。 AutoTEM 4 為薄片制備和提取提供了獨特且高度自動化的方法。AutoTEM 4 充分考慮新手用戶,即使是對極困難的樣品,也能提供一致的樣品制備。
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uPolisher
詳細摘要:Thermo Scientific μPolisher 系統(tǒng)是一種獨特的解決方案,適用于原位、較低能量的局部表面修飾,包括拋光和清洗散裝樣品。系統(tǒng)使用帶可調(diào)節(jié)能量和各種離子電流的靜態(tài)氣體 Ar+ 離子束,以確保在各種應用中進行溫和的表面拋光。
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Nebula 顆粒分散劑
詳細摘要:借助 Thermo Scientific Nebula 微粒分散劑,一種在 SEM 殘端上均勻分布干粉的標準方法變得可行。Nebula 通過獲得單層微??纱_保較佳的樣品制備,避免出現(xiàn)微粒簇,同時維持了脆弱微粒的結構。
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Phenom particleX 鋼制臺式 SEM
詳細摘要:Phenom particleX 鋼臺式 SEM 是一種聯(lián)合 SEM 成像和 EDS 分析的儀器,用于鋼鐵制造中的質(zhì)量控制,具有行業(yè)專用軟件,旨在快速簡便地提供高質(zhì)量的數(shù)據(jù)用于夾雜物、故障和失效分析。
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