金相顯微鏡OM

服務(wù)介紹：可用來進(jìn)行器件外觀及失效部位的表面形狀，尺寸，結(jié)構(gòu)，缺陷等觀察。金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與計(jì)算機(jī)（數(shù)碼相機(jī)）通過光電轉(zhuǎn)換有機(jī)的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計(jì)算機(jī)（數(shù)碼相機(jī)）顯示屏幕上觀察實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。

服務(wù)范圍：可供研究單位、冶金、機(jī)械制造工廠以及高等工業(yè)院校進(jìn)行金

屬學(xué)與熱處理、金屬物理學(xué)、煉鋼與鑄造過程等金相試驗(yàn)研究之用

服務(wù)內(nèi)容：1.樣品外觀、形貌檢測  

          2.制備樣片的金相顯微分析

          3.各種缺陷的查找

芯片失效分析實(shí)驗(yàn)室介紹，能夠依據(jù)、國內(nèi)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施檢測工作，開展從底層芯片到實(shí)際產(chǎn)品，從物理到邏輯全面的檢測工作，提供芯片預(yù)處理、側(cè)信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點(diǎn)激光注入等安全檢測服務(wù)，同時(shí)可開展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象，找出失效原因的失效分析檢測服務(wù)，主要包括點(diǎn)針工作站（Probe Station）、反應(yīng)離子刻蝕（RIE）、微漏電偵測系統(tǒng)（EMMI）、X-Ray檢測，缺陷切割觀察系統(tǒng)（FIB系統(tǒng)）等

體視顯微鏡OM

服務(wù)介紹：體視顯微鏡，亦稱實(shí)體顯微鏡或解剖鏡。是一種具有正像立體感的目視儀器，從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。對觀察體無需加工制作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，成像是直立的，便于操作和解剖。視場直徑大，但觀察物要求放

大倍率在200倍以下。

服務(wù)范圍：電子精密部件裝配檢修，紡織業(yè)的品質(zhì)控制、文物 、郵票的

輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察

服務(wù)內(nèi)容：1.樣品外觀、形貌檢測  

          2.制備樣片的觀察分析

          3.封裝開帽后的檢查分析

          4.晶體管點(diǎn)焊、檢查