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在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實(shí)效分析過程中，經(jīng)常要量測(cè)內(nèi)部的電參數(shù)，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡(jiǎn)單的萬用表、示波器的表筆來探測(cè)信號(hào)。手動(dòng)分析探針臺(tái)能很好的幫...
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