半導(dǎo)體領(lǐng)域探針臺(tái)

        在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實(shí)效分析過程中，經(jīng)常要量測內(nèi)部的電參數(shù)，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡單的萬用表、示波器的表筆來探測信號(hào)。手動(dòng)分析探針臺(tái)能很好的幫助工程人員實(shí)現(xiàn)微小位置的電學(xué)參數(shù)測試。Advanced在中國推出手動(dòng)分析探針臺(tái)

型號(hào)：   PW-400                              
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動(dòng)行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項(xiàng)）
搭配AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)2～4顆
適用領(lǐng)域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學(xué)術(shù)單位等

型號(hào)：   PW-600/PW-800

規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程150mm（200mm）
chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域：6寸/8寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
 
 RF高頻探針臺(tái)

東、南、西、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探針材料：BeCu/Tungsten