摘要 便攜式el檢測(cè)儀設(shè)計(jì)輕巧，便于攜帶到不同地點(diǎn)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。適合于戶外作業(yè)，適用于各種安裝環(huán)境下的光伏系統(tǒng)檢查。

摘要 SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀基于白光干涉原理，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

摘要泰科納光學(xué)閃測(cè)儀采用直徑100mm大視野和雙遠(yuǎn)心鏡頭，既可實(shí)現(xiàn)閃測(cè)儀大視野大范圍內(nèi)高速測(cè)量，又可以實(shí)現(xiàn)影像儀的微米級(jí)高精度測(cè)量。能夠快速對(duì)零件的二維幾何參數(shù)（如：長(zhǎng)度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對(duì)稱度等）進(jìn)行非接觸式微米級(jí)測(cè)量。同時(shí)可以加裝電感側(cè)頭、光譜共聚...

摘要泰科納一鍵式閃測(cè)儀采用直徑100mm大視野和雙遠(yuǎn)心鏡頭，既可實(shí)現(xiàn)閃測(cè)儀大視野大范圍內(nèi)高速測(cè)量，又可以實(shí)現(xiàn)影像儀的微米級(jí)高精度測(cè)量。能夠快速對(duì)零件的二維幾何參數(shù)（如：長(zhǎng)度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對(duì)稱度等）進(jìn)行非接觸式微米級(jí)測(cè)量。同時(shí)可以加裝電感側(cè)頭、光譜共...

摘要 SuperViewW白光干涉微觀三維形貌測(cè)量?jī)x測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

摘要LH-21*系列是三合一小光斑高精度透光率測(cè)量?jī)x，儀器采用集合三種不同波段光源于同一光源孔，可以一次性測(cè)試三波段透光率，市場(chǎng)上三孔三光源的原始技術(shù)，極大程度提高了工作效率，儀器配備電腦端軟件，可連接電腦進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，專業(yè)用于手機(jī)面板、玻璃、亞克力、薄膜、PV...

摘要LH-220/221是兩款高精度平行光源透光率測(cè)量?jī)x，LH-220用于可見(jiàn)光(VL)透光率測(cè)試，LH-221用于紫外光(UV)、可見(jiàn)光(VL)、紅外光(IR)三波段透光率測(cè)試，儀器根據(jù)光學(xué)原理，執(zhí)行GB5137.2—2002《汽車用安全玻璃光學(xué)性能試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)，符合...

摘要 聯(lián)輝誠(chéng)科技 光源測(cè)量透過(guò)率測(cè)試積分球

摘要 太陽(yáng)膜測(cè)試儀展示架 隔熱膜展示柜臺(tái)

摘要 屏幕亮度計(jì) LED 液晶屏 彩色屏幕 輝度計(jì)

摘要 SuperViewW非接觸式光學(xué)3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)以白光干涉技術(shù)為原理，能以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 SuperViewW納米級(jí)微觀三維形貌3D白光干涉儀主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。它能以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 SuperViewW高精度納米量級(jí)白光干涉測(cè)量?jī)x是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。

摘要泰科納雙視野閃測(cè)儀采用直徑100mm大視野和雙遠(yuǎn)心鏡頭，既可實(shí)現(xiàn)閃測(cè)儀大視野大范圍內(nèi)高速測(cè)量，又可以實(shí)現(xiàn)影像儀的微米級(jí)高精度測(cè)量。能夠快速對(duì)零件的二維幾何參數(shù)（如：長(zhǎng)度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對(duì)稱度等）進(jìn)行非接觸式微米級(jí)測(cè)量。同時(shí)可以加裝電感側(cè)頭、光譜共...

摘要泰科納雙視野拼接閃測(cè)儀采用直徑100mm大視野和雙遠(yuǎn)心鏡頭，既可實(shí)現(xiàn)閃測(cè)儀大視野大范圍內(nèi)高速測(cè)量，又可以實(shí)現(xiàn)影像儀的微米級(jí)高精度測(cè)量。能夠快速對(duì)零件的二維幾何參數(shù)（如：長(zhǎng)度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對(duì)稱度等）進(jìn)行非接觸式微米級(jí)測(cè)量。同時(shí)可以加裝電感側(cè)頭、光...

摘要泰科納閃測(cè)儀快速批量測(cè)量?jī)x器采用直徑100mm大視野和雙遠(yuǎn)心鏡頭，既可實(shí)現(xiàn)閃測(cè)儀大視野大范圍內(nèi)高速測(cè)量，又可以實(shí)現(xiàn)影像儀的微米級(jí)高精度測(cè)量。能夠快速對(duì)零件的二維幾何參數(shù)（如：長(zhǎng)度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對(duì)稱度等）進(jìn)行非接觸式微米級(jí)測(cè)量。同時(shí)可以加裝電感側(cè)...

摘要 聯(lián)輝誠(chéng)科技 光源測(cè)量透過(guò)率測(cè)試積分球

摘要 太陽(yáng)膜測(cè)試儀展示架 隔熱膜展示柜臺(tái)

摘要 SuperViewW光學(xué)摩擦磨損形貌輪廓測(cè)量?jī)x是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器，它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。

摘要 聯(lián)輝誠(chéng)科技 光源測(cè)量透過(guò)率測(cè)試積分球

摘要 中圖儀器白光干涉儀國(guó)產(chǎn)三維形貌儀SuperViewW是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 太陽(yáng)膜測(cè)試儀展示架 隔熱膜展示柜臺(tái)

摘要 屏幕亮度計(jì) LED 液晶屏 彩色屏幕 輝度計(jì)

摘要VX8000全自動(dòng)閃測(cè)儀光學(xué)圖像測(cè)量?jī)x是使用一種新型影像測(cè)量技術(shù)的精密測(cè)量?jī)x器，其一鍵測(cè)量二維平面尺寸測(cè)量，或是搭載光學(xué)非接觸式測(cè)頭實(shí)現(xiàn)高度尺寸、平面度等參數(shù)的精密快速測(cè)量。適用于要求批量測(cè)量或自動(dòng)測(cè)量的應(yīng)用場(chǎng)景，如電子PCB測(cè)量、五金零部件檢測(cè)、橡膠圈尺寸測(cè)量、手機(jī)...

摘要 光纖可調(diào)衰減器，旋鈕方式調(diào)節(jié)，光譜測(cè)量連續(xù)調(diào)節(jié)功能。光纖可調(diào)衰減器可以實(shí)現(xiàn)0~100,%范圍內(nèi)的連續(xù)調(diào)節(jié)，實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)光纖光譜系統(tǒng)的光強(qiáng)信號(hào)。

摘要 標(biāo)準(zhǔn)鋁鏡，光譜200-2500nm，光譜檢測(cè)儀廣STA高pin質(zhì)參比反射鋁鏡采用進(jìn)口鍍膜鋁鏡材料，能夠提供紫外-可見(jiàn)-近紅外（200~2500nm）寬光譜譜段平均大于 95% 的高反射率，在許多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。

摘要比色皿光譜測(cè)量支架，10-50mm光程，檢測(cè)CS4系列支架是透射光譜測(cè)量支架的一種，該系列支架為液體透射測(cè)量設(shè)計(jì)，可添加濾光片，不僅用于透射光譜測(cè)量，也可以用于熒光檢測(cè)。該支架可以與光譜儀、光源及其他配件組合成測(cè)量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量樣品的反射率、透過(guò)率、吸收率、熒光、...

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架26.045.2603提供優(yōu)異的穩(wěn)定性手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架26.040.2603具有高精度的角度調(diào)整能力手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架26.025.1303也可提供電動(dòng)版本手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架26.020.1303可從任何方向插入手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架14.110.0035適應(yīng)不同實(shí)驗(yàn)需求用于安裝直徑 35 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架14.110.0030耐蝕性較差用于安裝直徑 30 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架14.110.0025可提供其他直徑的夾頭用于安裝直徑 25 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架14.110.0000廣泛應(yīng)用于光學(xué)實(shí)驗(yàn)室用于安裝光學(xué)器件的支架，帶中心孔和 M4 攻絲孔

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架26.065.3803適用于多種光學(xué)元件手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 余弦校正器，200-2500nm寬譜段，測(cè)量檢測(cè)便于集成 — 體積小，可以集成到其他設(shè)備中高穩(wěn)定性 — 性能穩(wěn)定，不會(huì)因?yàn)檠趸l(fā)黃

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架19.100.0076實(shí)現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)的校準(zhǔn)用于未安裝光學(xué)器件的光學(xué)器件支架 ø 75 mm / 76.2 mm (3“)

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架16.202.0056夾緊直徑為56mmXY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個(gè)細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 56 mm

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架16.202.0045帶2個(gè)細(xì)牙螺釘XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個(gè)細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 45 毫米

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架16.100.0050有效保護(hù)光學(xué)元件用于直徑 50 毫米/50.8 毫米（2 英寸）未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架16.100.0040方便地組裝和拆卸用于直徑 40 毫米/38.1 毫米（1.5 英寸）未安裝光學(xué)器件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架14.202.0026用于固定安裝的光學(xué)器件XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個(gè)細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)器件 ø 25.4 mm (1“)

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架14.202.0025可安裝在銷軸上XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個(gè)細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 25 毫米

摘要 德國(guó)OWIS光學(xué)支架14.100.0032具有良好的穩(wěn)定性用于直徑 31.5 毫米未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)