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儀表網(wǎng)>全部分類 >專用儀表 >其它行業(yè) >電子檢測儀器/半導體檢測儀器 返回產(chǎn)品中心
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  • 摘要2600B系列 源表SMU儀器,是業(yè)界標準電流-電壓源和測量解決方案,適用于高度自動化生產(chǎn)測試應用。 雙通道和單通道型號都緊密集成一個精密電源、真正電流源、數(shù)字萬用表和具有脈沖生成功能的電子負載。 另外,TSP® 技術可運行完整測試程序,適用于自動化系統(tǒng)應用...

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    Tektronix/泰克
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  • 摘要 SPA-6100有機場效應晶體管iv+cv測試儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內的多頻AC電容測量

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    普賽斯儀表
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  • 摘要 電解地極是指利用電解原理將金屬材料轉化為氧化物,以降低接地電阻的接地極。它具有接地電阻低、使用壽命長、施工方便等優(yōu)點,在電力、通信、建筑等領域有著廣泛的應用。

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  • 摘要2400系列臺式圖形源表SMU儀器提供四象限精密電壓和電流源/負載,外加直觀觸摸屏用戶界面上的測量。這些儀器可同時提供 10 fA - 10 A 脈沖電流和/或 100nV - 200V 電壓(實現(xiàn) 1000W 脈沖和 100W 直流總功率)并對其進行測量,從而使用戶...

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    Tektronix/泰克
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  • 摘要中圖儀器WD4000半導體晶圓形貌檢測設備采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術,完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,*的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)...

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    中圖儀器
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  • 摘要 高校實驗教學IV性能分析數(shù)字源表認準普賽斯儀表,普賽斯數(shù)字源表SMU是整個測試系統(tǒng)的核心部分,用戶可以根據(jù)材料器件不同的電流、電壓,配置不同規(guī)格參數(shù)的源表和探針臺。

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    普賽斯儀表
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  • 摘要 普賽斯半導體功率器件C-V測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負責提供可調直流電壓偏置,通過矩陣開關加載在待測件上。CV測試機CV特性曲線分析儀認準普賽斯儀表

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    普賽斯儀表
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  • 摘要 光伏發(fā)電系統(tǒng)作為一種清潔能源,在范圍內得到廣泛應用。然而,光伏系統(tǒng)由于其特殊的結構和工作方式,容易受到雷電的襲擊。

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  • 摘要SPA-6100半導體參數(shù)CV+IV測試儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿...

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    普賽斯儀表
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  • 摘要浪涌保護器,又稱防雷器,是一種用于保護電氣設備免受雷擊和電源浪涌損壞的裝置。它可以吸收和泄放過電壓,將電壓限制在安全范圍內,從而保護設備的安全。地凱科技三相浪涌保護器是一種專門為三相電源系統(tǒng)設計的浪涌保護裝置,其工作原理是利用非線性元件吸收和泄放浪涌電流,從而保護設備...

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:EVPG20依據(jù)VW80300:2016中的EHV-10拋負載(?速變化率拋負載)和EHV-16?壓脈沖要求設計而成,用于車輛?壓電?部件測試。設備基于公司第三代開發(fā)平臺,采用觸屏控制,并可通過上位機軟件遠程控制。特點:

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:LFS300A電壓紋波干擾模擬器符合VolkswagenMQB37_AB中8.1節(jié)的標準要求,滿足新能源車載電驅動及高壓零部件在高壓網(wǎng)絡中對電系統(tǒng)紋波的抗擾要求。該設備采用我司的第三代控制平臺設計,具有控制智能化,操作簡單,

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:CCS600是一臺智能型多功能組合式抗擾度(EMS)測試設備,它能夠滿足國際標準和產(chǎn)品系列標準對瞬變脈沖、浪涌和電壓跌落測試的各種要求,測試電壓可達6KV。CCS系列是全兼容抗擾度測試方案,不但滿足歐盟

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:感應尖峰敏感度發(fā)生器ISS160S19是為符合RTCA/DO-160F/G,第19章節(jié)感應信號敏感性的互連線和電纜線尖峰感應實驗要求而專門設計的一款產(chǎn)品。該產(chǎn)品設計基于第三代智能化控制平臺,獨特的彩色觸摸屏操作界面具有良好

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  • 摘要產(chǎn)品簡述:EMC測試儀器,EMS抗干擾測試儀,TPS-160S17電壓尖峰脈沖發(fā)生器是針對RTCADO-160S17測試要求而設計開發(fā)的一款產(chǎn)品。能夠以5Hz脈沖重復頻率施加在EUT不接地輸入電源線上,滿足0-1200V脈沖峰值線性調節(jié)。TPS-160S17基于第三代...

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:TIS60T1車載電源線負浪涌模擬器依據(jù)ToyotaTSC0502G中的電源線負浪涌試驗要求設計,可模擬交流發(fā)電機突然斷開及感性負載切換引起的不同種類的負極性浪涌現(xiàn)象。TIS60T1能夠按照ToyotaTSC0502G標準要求產(chǎn)生方波(Fi

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:TIS60T3車載電源線正浪涌模擬器依據(jù)ToyotaTSC0502G中的電源線正浪涌試驗要求設計,可模擬電池終端突然斷開產(chǎn)生的正極性浪涌現(xiàn)象。TIS60T3能夠按照Toyota標準要求產(chǎn)生高頻脈沖(Fig.15),巨脈沖(Fig.17)以及浪

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:TIS300是為了滿足測試汽車、摩托車用儀表而專門設計的一款設備。設備符合QC/T727-2007標準要求中的波形A2、B2以及C2的實驗,同時也滿足JASOD001-94標準中的波形A2、B2以及D2的實驗。TIS300通過觸摸屏菜單和功

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:LDS200Nxx系列拋負載脈沖模擬器是模擬交流發(fā)電機正在向電池輸入電流的過程當中,電池與交流發(fā)電機突然斷開連接(例如:腐蝕造成的突然斷開)的情況下產(chǎn)生的拋負載高能量脈沖,該脈沖具有很強的破壞性。LDS200Nxx系

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:CWS 600系列組合波雷擊浪涌模擬器是為了模擬浪涌脈沖干擾現(xiàn)象而專門設計的一款測試設備

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:提供可靠且可重復的屏蔽環(huán)境nbsp;RSreg;TS7124射頻屏蔽箱有助于在需要屏蔽測試環(huán)境的情況下實現(xiàn)可靠且可重復的測量。RSreg;TS7124屏蔽箱具備出色的屏蔽效能、良好的天線耦合因數(shù)和堅固的機械設計,

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  • 摘要產(chǎn)品簡述:ENV4200 200 A 四線制 V 形網(wǎng)絡滿足 CISPR 16?1?2、EN 55016-1-2、ANSI C63.4 和 FCC 第 15 部分中有關 V 形網(wǎng)絡的要求,在 150 kHz 至 30 MHz 的頻率范圍內阻抗為 50 μH || 50...

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  • 摘要產(chǎn)品簡述:ENV432 四線制 V 形網(wǎng)絡滿足 CISPR 16?1?2、EN 55016-1-2 和 ANSI C63.4 中有關 V 形網(wǎng)絡的要求,在 9 kHz 至 30 MHz 的頻率范圍內模擬阻抗為 (50 μH + 5 Ω) || 50 Ω。RS®...

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  • 摘要產(chǎn)品簡述:ENV216 二線制 V 形網(wǎng)絡滿足 CISPR 16-1-2 和 EN 55016-1-2 中有關 V 形網(wǎng)絡的要求,在 9 kHz 至 30 MHz 的頻率范圍內,模擬阻抗為 (50 μH + 5 Ω) || 50 Ω;并滿足 ANSI C63.4 相關...

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:ESR EMI 測試接收機專用于通過傳統(tǒng)的步進式掃描或基于 FFT 的超快時域掃描來測量電磁干擾。接收機還可以用作功能*的信號與頻譜分析儀。接收機具備實時頻譜分析功能和廣泛的診斷工具,能夠詳細分析干擾信號及其歷史記錄。

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:ESW 具有杰出的射頻特性、出色的動態(tài)范圍和令人滿意的測量精度,是快速、可靠地進行認證測量的之選。它滿足 CISPR、EN、MIL?STD-461、DO?160 和 FCC 標準的嚴苛要求。

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:ESRP EMI 測試接收機專用于開發(fā)階段的診斷測量和預一致性測量,以便產(chǎn)品準備好接受最終的認證測試。在 10 Hz 至 7 GHz 的頻率范圍內,接收機使用傳統(tǒng)的步進式頻率掃描或基于 FFT 的時域掃描(可大幅加快測量)測量電磁干擾。

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  • 摘要 產(chǎn)品簡述:ESL EMI 測試接收機將兩種儀器集于一體,不僅能夠根據(jù)相關標準測量 EMC 干擾,還可以用作功能全面的頻譜分析儀以用于廣泛的實驗室應用。

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  • 摘要武漢普賽斯儀表CTMS1000A傳感器性能測試臺霍爾延時響應測試集多種測量和分析功能一體,可晶準測量各種電流傳感器(霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等)的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),單臺大電流源電流可高達1000A。該系統(tǒng)可測量不同電流傳感器的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),具有大電流特性、...

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  • 摘要 后備保護器 (SCB) 是一種專門為浪涌保護器 (SPD) 提供后備保護的裝置。它與 SPD 配套使用,旨在當 SPD 發(fā)生故障時迅速切斷電源,防止 SPD 持續(xù)通電、發(fā)熱、爆炸等危險,確保電氣設備的安全運行。

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  • 摘要 HCPL100型功率器件短路測試電源50~500us的脈沖寬度;15us的超快上升沿;同步測量電壓;單臺最大可達1000A輸出;可極性反轉;

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    普賽斯儀表
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  • 摘要 vcsel芯片測試設備脈沖恒流源超窄至1us的脈寬,大到30A的脈沖電流,兼容CW和QCW模式,豐富的軟件接口,可廣泛用于LD脈沖電流、脈沖電壓、PD光電流、背光二極管暗電流測試;

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    普賽斯儀表
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  • 摘要 在APD的光電特性中,暗電流是一個重要的參數(shù)。暗電流是指在沒有光照射的情況下,APD中由于熱激發(fā)等原因導致的電子漂移和電子-空穴對產(chǎn)生而產(chǎn)生的電流,暗電流測試的準確性對于評估APD的性能和穩(wěn)定性非常重要。APD暗電流測試精密源表認準普賽斯儀表

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    普賽斯儀表
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  • 摘要 普賽斯半導體結電容分析系統(tǒng),集多種測量和分析功能一體,可以精準測量IGBT功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。

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    普賽斯儀表
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  • 摘要1、功能特點主要功能:實現(xiàn)設備的智能巡檢與云端管理特點:具有抗震、抗磁、防潮、防腐蝕、耐久性等功能2、技術參數(shù)芯片:復旦F08、NATG213等封裝材料:PET(抗腐蝕化工環(huán)境其他環(huán)境)遵守協(xié)議:ISO/IEC14443A/B頻率:高頻:13.56MHZ±...

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  • 摘要普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、帥先國產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體??勺鳛楠毩⒌暮銐涸椿蚝懔髟?、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載。其高性能架構還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)...

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  • 摘要 機房是現(xiàn)代信息社會的重要基礎設施,其內部的設備對電磁環(huán)境的敏感度很高,容易受到雷擊、開關操作、電網(wǎng)諧波等因素產(chǎn)生的浪涌電壓影響,造成設備損壞或數(shù)據(jù)丟失。因此,在機房配電箱中安裝浪涌保護器是保障機房設備安全運行的重要措施。

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  • 摘要可用于各類二極管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌電流(IFSM)試驗,包括三極管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的內置二極管的浪涌測試。二極管元件在實際使用中,除了能長期通過額定通態(tài)平均電流外,還應能承受一定倍數(shù)的浪涌過載電流而不致?lián)p壞,...

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  • 摘要普賽斯深耕半導體I-V測試領域,一直致力于自主研發(fā)國產(chǎn)源表,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體,同時還可以作為電子負載來吸收能量。Z大電壓300v,最小電流100pA,Z大功率為30W,實現(xiàn)快速、精準的測量材料的電參數(shù),廣泛應用于印刷電極、導電高分子、石墨烯、傳...

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  • 摘要高精密源表IV掃描測試鈣鈦礦太陽能電池片認準普賽斯儀表,武漢普賽斯源表寬廣的電流和電壓測量范圍,可以為科研及生產(chǎn)制造提供著越的測量性能。結合太陽光模擬器以及專用的上位機軟件,支持自動掃描I-V特性曲線以及開路電壓、短路電流、最大功率、填充因子、轉換效率等參數(shù)的測量,能...

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  • 摘要 在霍爾電流傳感器的研發(fā)、使用過程中,對器件的響應速度、線性度、精度等特性的測量尤為重要,對確保器件性能穩(wěn)定、可靠工作,以及指導器件選型使用具有重要意義?;魻栯娏鱾鞲衅黜憫獣r間測試設備認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表

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  • 摘要WD4000晶圓翹曲度測試設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術,完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像,實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV)...

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  • 摘要普賽斯五合一高精度數(shù)字源表(SMU)在半導體IV特性測試方面擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗,為晶體管電性能參數(shù)測試提供全面的解決方案,包括二極管、MOS管、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等。此外,普賽斯儀表還提供適當?shù)碾娎|輔件和測試夾具,實現(xiàn)安全、精確和可靠的測試,數(shù)字源...

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  • 摘要普賽斯專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產(chǎn)品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案,為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段,實現(xiàn)功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和分析,第...

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  • 摘要華科智源SiC器件測試儀/設備,測試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉移曲線,測試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于器件設計,封裝測試,軌道交通,電動汽車 ,風力發(fā)電,變頻器,焊機等行業(yè)的IGBT來料選型和失效分...

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最新產(chǎn)品\ NEW PRODUCT
  • DEWETRON功率分析儀

    DEWETRON功率分析儀的核心設計理念是“混合信號測量”——將電功率分析與機械參數(shù)、溫度、振動等多物理量測量集成于同一平臺,使用戶在一臺儀器上即可完成從電氣到機械的全面測試分析。
  • 食品物性質構分析儀

    ZG-30質構儀(物性分析儀)作為一種感官物性分析類儀器,可用于檢測食品、生物、制藥和化工等領域樣品的物性指標,包括硬度、彈性、酥脆性、咀嚼度、堅實度、韌性、延展性、回復性、凝膠強度等質構儀(物性分析儀)。CHZG-30質構儀為機電一體化產(chǎn)品,采用現(xiàn)代的機械設計理念和人機工程學的設計準則,運用先進的雙CPU微電腦處理技術進行精心合理的設計制成。
  • LET-SP802半導體參數(shù)測試

    LET-SP802 半導體圖示儀是一款測量與分析功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器,為所有類型的功率半導體器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。SP802 半導體測試系統(tǒng)能在 200V 和 10A 的條件下實現(xiàn)精確測量、分析功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù)。
  • 多功能一體機DEWETRON功率

    DEWETRON功率分析儀,多功能一體機DEWETRON功率分析儀是一家專注于數(shù)據(jù)采集(DAQ)與測試測量的公司,其核心優(yōu)勢在于提供高度模塊化、軟硬件深度結合的解決方案。無論是需要便攜式現(xiàn)場測試,還是復雜的實驗室臺架集成,其產(chǎn)品都能將高精度功率分析、瞬態(tài)記錄、振動噪聲測試等多種功能集于一身。
  • 振動傳感器

    美國進口單軸振動傳感器,振動傳感器的安裝位置直接影響測量結果的準確性和可靠性??拷P鍵部位:將傳感器安裝在最能反映被測結構振動特性的位置,如軸承座、齒輪箱殼體、電機端蓋等關鍵承力點附近。
  • LET-6000半導體器件高溫反

    LET-6000系列即是針對半導體器件的可靠性要求,滿足多種標準的可靠性試驗系統(tǒng)。本系統(tǒng)可以完成高溫工作壽命HTOL、溫濕度H3TRB、高溫反偏HTRB和高溫柵偏HTGB的可靠性試驗工藝過程的試驗。
  • LET-10000集成電路測試教

    LET-10000集成電路測試教學系統(tǒng)部署了企業(yè)真實項目案例拆分出的實驗、實訓項目資源池,學生掛載實驗箱可完成從電路原理圖設計、混合信號設計、版圖編輯至物理驗證、tape-out集成電路全流程設計。
  • 晶圓厚度粗糙度三維形貌測

    中圖儀器WD4000晶圓厚度粗糙度三維形貌測量系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,*的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。
  • 氧分析儀

    氧分析儀Gasboard-3053搭載高穩(wěn)定性的氧化鋯核心傳感器,覆蓋25%富氧至1ppm微量氧的全范圍測量。具有測量精度高、響應時間快、穩(wěn)定性好等特點,可應用于半導體制造、空氣分離、惰性氣體焊接等領域,為關鍵的過程控制應用程序提供可靠的性能。產(chǎn)品采用緊湊型模塊化設計,體積小巧,便于在復雜?況下安裝,同時配備直觀豐富的用戶界面,提供人機交互體驗。
  • 晶圓三維顯微形貌測量設備

    WD4000晶圓三維顯微形貌測量設備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組,使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測量。
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