摘要 SPA-6100型半導(dǎo)體參數(shù)分析儀1200V可以幫助用戶根據(jù)測(cè)試需要，靈活選配測(cè)量單元進(jìn)行升級(jí)。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測(cè)量，同時(shí)檢測(cè)10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測(cè)量

摘要 安捷倫（Agilent）自1999年從惠普公司分離出來成為獨(dú)立的公司

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摘要 簡(jiǎn)要描述： Keysight B1505A功率器件分析儀;Keysight B1505A 功率器件分析儀 曲線追蹤儀是能夠?qū)?sub-pA 電平至 10 kV 和 1500 A 的高功率器件進(jìn)行表征的綜合解決方案。

摘要 簡(jiǎn)要描述： Keithley 4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)；4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝電氣特性分析的完整解決方案。

摘要 簡(jiǎn)要描述： Keithley 2600系列半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)；開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二管和其他大功率器件，需要全面的器件檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。

摘要 簡(jiǎn)要描述： ITC55100 半導(dǎo)體測(cè)試儀；ITC55100C 型號(hào)是新一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測(cè)試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常*的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比代型號(hào)快20倍。

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摘要 普賽斯儀表推出的汽車電流傳感器標(biāo)定測(cè)試設(shè)備集多種測(cè)量和分析功能一體，可精準(zhǔn)測(cè)量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)，單臺(tái)大電流源電流可高達(dá)1000A

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摘要 簡(jiǎn)要描述： Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體測(cè)試儀系統(tǒng)；使用4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。

摘要通常，氣體傳感器 I-V 特性測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成，如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而，由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析，過程既復(fù)雜又耗時(shí)，還占用過多測(cè)試臺(tái)的空間。實(shí)施I-V特性分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。數(shù)字源表作為獨(dú)立的恒壓源...

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摘要普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測(cè)試的專業(yè)智能裝備，產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測(cè)試手段，實(shí)現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測(cè)量和分析...

摘要 WD4000系列無圖晶圓幾何測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù)。

摘要 普賽斯大功率igbt測(cè)試設(shè)備igbt測(cè)試儀器 ,集多種測(cè)量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測(cè)量IGBT功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級(jí)精確測(cè)量、納安級(jí)電流測(cè)量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下測(cè)量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。

摘要 普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測(cè)量、3500V高壓下納安級(jí)測(cè)量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，SMU源表IV測(cè)試燃料電池電性能參數(shù)就找普賽斯儀表

摘要 在傳感器研究的早期階段，利用I-V特性分析技術(shù)，可以簡(jiǎn)化用于氣體檢測(cè)系統(tǒng)和分析儀器的傳感器合格驗(yàn)證。無論對(duì)于新材料、新技術(shù)研發(fā)還是傳感器的生產(chǎn)測(cè)試，將I-V特性分析技術(shù)用于各種傳感器和選擇Z佳測(cè)試儀器方面，半導(dǎo)體電阻式傳感器電性能IV測(cè)試精密源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表

摘要 WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，*的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

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摘要IV特性是表征半導(dǎo)體二極管PN結(jié)制備性能的主要參數(shù)之一，普賽斯“五合一”高精度數(shù)字源表（SMU）可為高?？蒲泄ぷ髡?、器件測(cè)試工程師及功率模塊設(shè)計(jì)工程師提供測(cè)量所需的工具。不論使用者對(duì)源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉，都能簡(jiǎn)單而迅速地得到精確的結(jié)...

摘要 HCP系列直流30A大電流源表具備直流和脈沖輸出能力，最大脈沖輸出電流100A，最大輸出電壓100V，支持四象限工作，輸出及測(cè)量精度均可達(dá)0.1%，可廣泛用于功率MOS測(cè)試、肖特二極管測(cè)試、整流橋堆測(cè)試及太陽能電池模組測(cè)試等。

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