產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀

半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng)

靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）

動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）

環(huán)境老化測(cè)試（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）

熱特性測(cè)試（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）

可測(cè)試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

用于測(cè)試 IGBTs,MOSFETs, Diode,靜態(tài)直流參數(shù)

3000V/2000A

?ST-SP4040 功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品簡(jiǎn)述

 ST-SPX系列產(chǎn)品是主要針對(duì)半導(dǎo)體功率器件的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試而開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)。通過(guò)DUT適配器的轉(zhuǎn)換，可實(shí)現(xiàn)對(duì)各種封裝形式的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等半導(dǎo)體器件的靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試，包括器件、模塊以及DBC襯板和晶圓。

設(shè)備融入了自動(dòng)化及智能化的設(shè)計(jì)理念及功能，支持批量上下料并進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)試。用于規(guī)?；慨a(chǎn)可節(jié)省人力并提高測(cè)試產(chǎn)能，適合產(chǎn)線量測(cè)以及器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試，設(shè)備由主控計(jì)算機(jī)操控，測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)上傳以及保存。測(cè)試能力包含輸出特性、轉(zhuǎn)移特性、擊穿特性、漏電流、閾值電壓、二極管壓降等。產(chǎn)品功能及輸出功率進(jìn)行了模塊化設(shè)計(jì)，滿足用戶潛在的后期需求，測(cè)試電壓電流可擴(kuò)展至10KV/10KA，變溫測(cè)試支持常溫到200℃。

?測(cè)試能力


?IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)
? 產(chǎn)品以2000A為一個(gè)電流模塊,以1000V為一個(gè)電壓模塊，可升級(jí)到10KA/10KV.

? 可以連接探針臺(tái)做 wafer / chip 測(cè)試，也可以安裝夾具及適配器做模塊測(cè)試

? 針對(duì)不同結(jié)構(gòu)的封裝外觀，通過(guò)更換 DUT適配器即可

? 可進(jìn)行室溫~200℃變溫測(cè)試,也可實(shí)現(xiàn)子單元測(cè)試功能

? 測(cè)試軟件具有實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ胶蜕a(chǎn)模式,測(cè)試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為Excel文件

? 柵極電阻可任意調(diào)整

? 系統(tǒng)測(cè)試性能穩(wěn)定,適合大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用（24hr 工作）

? 支持半自動(dòng)和全自動(dòng)測(cè)試

? 采用品牌工控機(jī)，具有抗電磁*力強(qiáng)，排風(fēng)量大等特點(diǎn)

? 安全穩(wěn)定（PLC 對(duì)設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖）

? 自動(dòng)化，單機(jī)測(cè)試時(shí)只需手動(dòng)放置DUT，也可連接機(jī)械選件實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試線

? 智能化，通過(guò)主控計(jì)算機(jī)進(jìn)行操控及數(shù)據(jù)編輯，測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存及上傳局域網(wǎng)

? 安全性，防爆，防觸電，防燙傷，短路保護(hù)等多重保護(hù)措施，確保操作人員、設(shè)備、數(shù)據(jù)及樣品安全。