ST-Thermal-Rth晶體管熱阻測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

     品牌：天光測控晶體管熱阻測試系統(tǒng)

l型號：ST-Thermal-Rth

l測量范圍：4000A/9V

l測量精度：±0.1%set+0.4%FS

l測試對象：IGBTs / DIODEs / MOSFETs等19種材料

l歡迎垂詢029*8730*9001或180*9364*3147

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系統(tǒng)概述
近年來由于電子產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，電子組件的發(fā)展趨勢朝向高功能、高復(fù)雜性、大量生產(chǎn)及低成本的方向。組件的發(fā)熱密度提升，伴隨產(chǎn)生的發(fā)熱問題也越來越嚴(yán)重，而產(chǎn)生的直接結(jié)果就是產(chǎn)品可靠度降低，因而熱管理（thermalmanagement）相關(guān)技術(shù)的發(fā)展也越來越重要。電子組件熱管理技術(shù)中*常用也是重要的考量標(biāo)準(zhǔn)之一就是熱阻（thermal   resistance）。

本系統(tǒng)測試原理符合 JEDEC51-1 定義的動態(tài)及靜態(tài)測試方法）運用實時采樣靜態(tài)測試方法（Static Method），廣泛用于測試各類IC（包括二極管、三極管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、導(dǎo)熱材料、散熱器、熱管等的熱阻、熱容及導(dǎo)熱系數(shù)、接觸熱阻等熱特性。

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系統(tǒng)特征：
● 可測試瞬態(tài)熱阻，也可測試穩(wěn)態(tài)熱阻；
● 測試精度高
● 靈活的熱敏參數(shù)M值測試，有兩種測試方法:
(1)快速測試方法，只測試PN結(jié)常溫下的結(jié)壓降，再與(-273.15℃,1267mV)進(jìn)行線性計算M值，此方法非?？焖俦憬荩?S以內(nèi)就可以確定一種器件的熱敏參數(shù)M值；
(2)依據(jù)*標(biāo)準(zhǔn)IEC60747-9和美軍標(biāo)MIL-750E的方法，用兩點法確定熱敏參數(shù)M值，可以用油槽恒溫加熱，也可以用空氣恒溫加熱。
● 基于Windows系統(tǒng)的控制軟件，測試條件可存儲到器件文件庫，測試效率高；
● 實時顯示器件殼溫測量溫度曲線，繪制熱阻曲線（從瞬態(tài)到穩(wěn)態(tài)）、二次擊穿曲線、結(jié)壓降采樣曲線、特定脈沖寬度加熱下的安全工作區(qū)曲線，使用戶輕松掌握熱阻測試全過程。
●測試結(jié)果表格化顯示，清楚明了，便于觀察?？梢源鎯镋XCEL格式，便于數(shù)據(jù)交流和閱讀整理?？梢源蛴?，便于保存分析。

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系統(tǒng)配置：

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