512通道

器件測(cè)試圖例：

集成電路測(cè)試截圖：

可以放大觀看單個(gè)管腳PIN

測(cè)試通道：

二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：512路

二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：512路

三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：512路

設(shè)備可以64通道為步進(jìn)可擴(kuò)充到2048組測(cè)試通道

英國abi-集成電路測(cè)試儀SWA512功能用途：

1）集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；

2）可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試；三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試；

3）快速篩選好壞、仿制集成電路及元器件；

4）對(duì)不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析；

5）非加電條件下對(duì)集成電路、電路板進(jìn)行全面的端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試分析；

6）快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳；

7）測(cè)試安全可靠，全面解決器件工藝、電路板工藝問題，快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問題；

8）進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測(cè)；

9）專業(yè)操作管理平臺(tái)：可根據(jù)需求編輯測(cè)試流程程序，完成自定義化測(cè)試，軟件管理平臺(tái)兼容其他廠商設(shè)備。測(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過程，使集成電路、電路測(cè)試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程（維修流程、生產(chǎn)流程）。保證了測(cè)試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測(cè)試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。

英國abi-集成電路測(cè)試儀SWA512技術(shù)規(guī)格：

二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：512路

二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：512路

三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：512路

設(shè)備可以64通道為步進(jìn)可擴(kuò)充到2048組測(cè)試通道

實(shí)時(shí)探筆對(duì)比測(cè)試通道：4路

同步脈沖信號(hào)：4路

測(cè)試電壓范圍：2 V ～ 50 Vp-p；

顯示圖形模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；

信號(hào)電流范圍： 1 μA to 150 mA

測(cè)試阻抗范圍 : 100Ω ～ 1MΩ；

三維立體V-I-F測(cè)量方式：掃頻；

同步脈沖輸出模式：單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；

同步信號(hào)振幅:可調(diào)式由 +10 V ~- 10V；

英國abi_SWA512集成電路測(cè)試儀主要優(yōu)勢(shì)：

1）提供軟件開發(fā)平臺(tái)，兼容其他廠商測(cè)試設(shè)備；

2）*的V-T模式可測(cè)量器件的開關(guān)時(shí)間特性（配合同步脈沖）；可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試?？蓽y(cè)試三段期間開關(guān)時(shí)間特性。

3）動(dòng)態(tài)阻抗分析功能，可以對(duì)三維圖形進(jìn)行參數(shù)的測(cè)量；

4）變頻或掃頻三維立體V-I-F測(cè)量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或集成電路。

5）非加電條件下靜態(tài)診斷集成電路, 不必外加電源即可進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試更安全：矩陣式掃頻測(cè)試，脈沖輸出進(jìn)行的動(dòng)態(tài)V/T測(cè)試。

北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國ABI技術(shù)服務(wù)中心）提供:

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