CMI900 X射線熒光鍍層厚度及材料組成分析儀
產(chǎn)品型號： CMI 900
產(chǎn)品說明：
□適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能*的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、
貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領(lǐng)域。
□服務(wù)優(yōu)勢：具有最多的服務(wù)網(wǎng)點和*的技術(shù)支持
□測量精度：1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片，分辨率：0.01mils(0.25μm)
□測量范圍：磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm)；渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途：廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測量
產(chǎn)品介紹:
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能*的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬
含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink Fp應(yīng)用軟件
包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機(jī)的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r測定最多5層、15種
元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)
據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、
UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
● 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
● 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
● 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，
分別為：
● 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣
品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。
● Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品高度為270mm。
● 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品高度為356mm。
● 可擴(kuò)展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。