少子壽命測量儀BCT-400

BCT-400測量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命.

因為少子壽命作為衡量生長和缺陷含量的的較敏感的技術參數(shù)，這個工具直接獲得長硅的質量參數(shù)。

作為較易于使用的測量工具--BLS，只需要有直徑150mm大小的平面。如果只是測量平面樣品的話，請選擇BCT-400。

產(chǎn)品簡述：

1.用途（高頻光電導）

用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊

體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體

內(nèi)重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。

2.設備組成

2.1光脈沖發(fā)生裝置

重復頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關斷時間＜1μｓ

紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A

如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源