探針臺用于半導體、微電子、材料研發(fā)領(lǐng)域的核心測試設(shè)備，高溫可以聚焦樣品在高溫環(huán)境下的電學特性變化，低溫可以驗證產(chǎn)品的性能變化，兩者核心區(qū)別在于對溫度的控制能力與適配的應(yīng)用場景。

高溫探針臺是集成高精度溫控加熱臺與精密探針定位系統(tǒng)的測試設(shè)備，核心是提供穩(wěn)定、可控的高溫環(huán)境，同時保證探針與樣品電極的可靠接觸，用于研究溫度升高時樣品的電學參數(shù)漂移、材料相變、熱穩(wěn)定性等特性，溫度范圍室溫～300℃（可更高800℃）

低溫探針臺是集成制冷系統(tǒng)與真空 / 惰性氣體環(huán)境的探針測試設(shè)備，核心是提供穩(wěn)定的低溫（超低溫）環(huán)境，消除熱噪聲干擾，或研究低溫下的量子效應(yīng)、半導體載流子特性等，溫度范圍室溫～-169℃（可更低-269℃）

高溫探針臺選型關(guān)鍵：注意溫度與精度及探針定位精度，

低溫探針臺選型關(guān)鍵：注意制冷方式及真空度及探針是否耐低溫

高溫探針臺與低溫探針臺的區(qū)別使用注意事項

高溫探針臺使用

升溫前需確保樣品與探針臺接觸良好，避免局部受熱不均導致樣品開裂；

高溫下禁止觸摸樣品臺與探針，防止燙傷；測試結(jié)束后需等待樣品臺自然降溫至室溫，再取出樣品。

高溫探針臺與低溫探針臺的區(qū)別低溫探針臺使用

抽真空之前需檢查樣品腔密封性能，避免真空泄漏；

低溫測試時禁止打開樣品腔，防止空氣進入導致樣品結(jié)露；

液氦 / 液氮制冷機型需注意制冷劑補充，避免因制冷劑耗盡導致樣品升溫損壞。

實驗室微型探針臺是適配高校、科研機構(gòu)等小型實驗室場景的精密測試設(shè)備，主打體積小巧、操作便捷，能滿足微納器件、半導體芯片等小型樣品的電學、光電等多類性能測試需求。

相比工業(yè)級探針臺，微型款占地面積很小，重量輕，可以直接放在實驗室臺面或?qū)嶒灱苌蟻磉M行檢測，小部分機型還可以移動。

微型探針臺可支持高溫、低溫、真空高低溫等特殊環(huán)境下的測試，常適用于高校教學實驗，半導體晶圓測試，特殊環(huán)境材料測試

用戶們可以根據(jù)測試樣品尺寸來選擇對應(yīng)的機型，比如2英寸、4英寸、6英寸等等，若是做常規(guī)電學測試選擇基礎(chǔ)款就行，若是需要高溫、低溫實驗、可以選擇高低溫真空型號的