LiteScope 原位AFM in SEM

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型號LiteScope
品牌
所在地上海
更新時間2026-05-06

上海納騰儀器有限公司

廠商性質(zhì)其他
所在地區(qū)上海
實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
產(chǎn)品數(shù)量204
人氣值1712

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上海納騰儀器有限公司是一家專注于為微納米科學(xué)領(lǐng)域提供綜合性解決方案，為

全國各大高校、科研院所及企事業(yè)單位提供*的微納米科學(xué)儀器。

目前上海納騰已成為國內(nèi)少數(shù)幾家專業(yè)提供微納米科學(xué)儀器的企業(yè)，在微納加工儀器，微納表征儀器，微納儀器耗材，微納加工測試等相關(guān)領(lǐng)域，擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)過硬的團(tuán)隊(duì)。能夠出色地完成售中、售后的服務(wù)。

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原位AFM in SEM

原位AFM in SEM 產(chǎn)品詳情

LiteScope^™是一種獨(dú)特的掃描探針顯微鏡（SPM），便于集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中。互補(bǔ)SPM和SEM技術(shù)的結(jié)合（CPEM）可以進(jìn)行復(fù)雜的樣品分析，包括表面形貌、機(jī)械性能、電性能、化學(xué)成分、磁性等的表征。還能與其他掃描電鏡附件相結(jié)合，如聚焦離子束（FIB）或氣體注入系統(tǒng)(GIS ）用于納米/微結(jié)構(gòu)的制備和表面改性可以對裝配結(jié)構(gòu)的快速和簡單的3D檢查。同時，SPM和SEM測量能夠在同一地點(diǎn)、同一時間、同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)進(jìn)行。

關(guān)鍵詞：顯微鏡電子顯微鏡

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