華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態(tài)參數(shù)測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管，MOS管等器件的 V-I 特性測試，測試1200A（可擴(kuò)展至2000A），5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)用于軌道交通，電動(dòng)汽車 ，風(fēng)力發(fā)電，變頻器，焊機(jī)行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析，設(shè)備還可以用于變頻器，風(fēng)電，軌道交通，電焊機(jī)等行業(yè)的在線檢修，無需從電路板上取下來進(jìn)行單獨(dú)測試，可實(shí)現(xiàn)在線IGBT檢測，測試方便，測試過程簡單，既可以在測試主機(jī)里設(shè)置參數(shù)直接測試，又可以通過軟件控制主機(jī)編程后進(jìn)行自動(dòng)測試，通過電腦操作完成 IGBT 的靜態(tài)參數(shù)測試；

產(chǎn)品信息：

1、產(chǎn)品型號(hào)及名稱：IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀

2、產(chǎn)品測試電流電壓為1600A,±5000V,向下兼容

3、VGE可達(dá)±100V；開啟電壓VGETH支持兩種測試方法；

4、采用插槽式設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，便于升級(jí)和維護(hù)；

5、設(shè)備支持SI基，SIC材料的MOS管，IGBT單管及模塊，二極管測試，晶閘管測試，

6、自動(dòng)進(jìn)行分檔測試，既覆蓋大功率特征下的測試范圍，又可保證小功率器件測試精度

7、支持單點(diǎn)測試，I-V曲線掃描，還具有曲線對(duì)比功能；

8、測試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為Excel文件，WORD報(bào)告

9、安全性，防爆，防觸電，防燙傷，短路保護(hù)等多重保護(hù)措施，確保操作人員、設(shè)備、數(shù)據(jù)及樣品安全。

測試參數(shù)：

ICES  集電極-發(fā)射極漏電流

IGESF 正向柵極漏電流

IGESR 反向柵極漏電流

BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓

VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓

VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓

ICON 通態(tài)電極電流

VGEON 通態(tài)柵極電壓

VF 二極管正向?qū)▔航?/span>

整個(gè)測試過程自動(dòng)完成，電腦軟件攜帶數(shù)據(jù)庫管理查詢功能，可生成測試曲線，方便操作使用

基礎(chǔ)能力：

1) 測試電壓范圍：0-±5000V

2) 測試電流范圍：0-±1600A

3) 測試柵極電壓范圍：0-±100V

4) 電壓分辨率：0.1mV

5) 電流分辨率：0.1nA

測試種類及參數(shù)：

（1）Diode（支持 Si ,SiC , GaN 材料器件）

靜態(tài)參數(shù)：BVR/擊穿電壓、IR/漏電流、VF/正向壓降；

（2）MOSFET（支持 Si ,SiC , GaN 材料器件）

靜態(tài)參數(shù)：BVDSS/漏源極擊穿電壓，VGS(th)/柵極開啟電壓，IDSS 漏源極漏電流、VF/二極管正向壓降；Rdson 內(nèi)阻

（3）IGBT單管及模塊（支持 Si ,SiC , GaN 材料器件）

靜態(tài)參數(shù)：BVCES/集射極擊穿電壓，VGE(th)/柵極開啟電壓 、ICES/集射極漏電流、VF/二極管正向壓降；VCESAT/飽和壓降，IGESR,IGESF 柵極漏電流

華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態(tài)參數(shù)測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管，MOS管等器件的 V-I 特性測試，測試1200A（可擴(kuò)展至2000A），5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)用于軌道交通，電動(dòng)汽車 ，風(fēng)力發(fā)電，變頻器，焊機(jī)行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析，設(shè)備還可以用于變頻器，風(fēng)電，軌道交通，電焊機(jī)等行業(yè)的在線檢修，無需從電路板上取下來進(jìn)行單獨(dú)測試，可實(shí)現(xiàn)在線IGBT檢測，測試方便，測試過程簡單，既可以在測試主機(jī)里設(shè)置參數(shù)直接測試，又可以通過軟件控制主機(jī)編程后進(jìn)行自動(dòng)測試，通過電腦操作完成 IGBT 的靜態(tài)參數(shù)測試；

產(chǎn)品信息：

1、產(chǎn)品型號(hào)及名稱：IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀

2、產(chǎn)品測試電流電壓為1600A,±5000V,向下兼容

3、VGE可達(dá)±100V；開啟電壓VGETH支持兩種測試方法；

4、采用插槽式設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，便于升級(jí)和維護(hù)；

5、設(shè)備支持SI基，SIC材料的MOS管，IGBT單管及模塊，二極管測試，晶閘管測試，

6、自動(dòng)進(jìn)行分檔測試，既覆蓋大功率特征下的測試范圍，又可保證小功率器件測試精度

7、支持單點(diǎn)測試，I-V曲線掃描，還具有曲線對(duì)比功能；

8、測試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為Excel文件，WORD報(bào)告

9、安全性，防爆，防觸電，防燙傷，短路保護(hù)等多重保護(hù)措施，確保操作人員、設(shè)備、數(shù)據(jù)及樣品安全。

測試參數(shù)：

ICES  集電極-發(fā)射極漏電流

IGESF 正向柵極漏電流

IGESR 反向柵極漏電流

BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓

VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓

VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓

ICON 通態(tài)電極電流

VGEON 通態(tài)柵極電壓

VF 二極管正向?qū)▔航?/span>

整個(gè)測試過程自動(dòng)完成，電腦軟件攜帶數(shù)據(jù)庫管理查詢功能，可生成測試曲線，方便操作使用

基礎(chǔ)能力：

1) 測試電壓范圍：0-±5000V

2) 測試電流范圍：0-±1600A

3) 測試柵極電壓范圍：0-±100V

4) 電壓分辨率：0.1mV

5) 電流分辨率：0.1nA

測試種類及參數(shù)：

（1）Diode（支持 Si ,SiC , GaN 材料器件）

靜態(tài)參數(shù)：BVR/擊穿電壓、IR/漏電流、VF/正向壓降；

（2）MOSFET（支持 Si ,SiC , GaN 材料器件）

靜態(tài)參數(shù)：BVDSS/漏源極擊穿電壓，VGS(th)/柵極開啟電壓，IDSS 漏源極漏電流、VF/二極管正向壓降；Rdson 內(nèi)阻

（3）IGBT單管及模塊（支持 Si ,SiC , GaN 材料器件）

靜態(tài)參數(shù)：BVCES/集射極擊穿電壓，VGE(th)/柵極開啟電壓 、ICES/集射極漏電流、VF/二極管正向壓降；VCESAT/飽和壓降，IGESR,IGESF 柵極漏電流