【儀表網(wǎng) 研發(fā)快訊】近期，集成電路學(xué)院羅為教授、張悅教授合作的磁聲耦合效應(yīng)傳感研究結(jié)果在物理學(xué)期刊《物理評論快報》(Physical Review Letters)上發(fā)表。
 

　　圖中ac為低楊氏模量Ni膜及其二重對稱磁聲耦合效應(yīng)，bd為高楊氏模量Ni膜及其四重對稱磁聲耦合效應(yīng)。
 

　　磁彈耦合效應(yīng)是磁聲多物理場耦合器件的核心物理機制。在瑞利波或水平剪切波等典型的聲表面波(SAW)激勵下，磁彈耦合能一般表現(xiàn)出四重對稱性，即在相鄰夾角為90度的四個不同方向下，磁彈耦合能達最大，這是目前磁聲耦合器件的基本性能。
 

　　實驗發(fā)現(xiàn)一種具有獨特二重對稱性的磁聲耦合效應(yīng)，該效應(yīng)源于楊氏模量較低的磁性薄膜中隨膜厚顯著增強的垂直剪切應(yīng)變。在傳統(tǒng)四重對稱磁聲耦合效應(yīng)中，這一垂直剪切應(yīng)變通常被認為極其微弱。然而，通過結(jié)合實驗，理論計算與多物理場仿真，該團隊提出當磁性薄膜的楊氏模量較低時，該垂直剪切應(yīng)變將顯著增強，并占據(jù)主導(dǎo)地位，從而產(chǎn)生具有獨特二重對稱的磁聲耦合效應(yīng)。該效應(yīng)為具有非互易和拓撲特性的新型磁子-聲子耦合器件的研究開辟了新道路。
 

　　研究由集成電路學(xué)院羅為教授和張悅教授合作完成，陳發(fā)博士生為第一作者，日本東京大學(xué)Yoshichika Otani教授課題組廖立楊博士作為共同第一作者參與主要理論分析工作，傅邱云教授和陳佳欣碩士生等人作出重要貢獻。