詳細摘要: 測試參數: 二極管、三極管、MOSFET、IGBT等半導體分立器件的柵電阻Rg、輸入電容Ciss、輸出電容Coss、反饋電容Crss.測量量程: 100 mΩ~...
產品型號:所在地:西安市更新時間:2023-11-10 在線留言
西安天光測控技術有限公司
詳細摘要: 測試參數: 二極管、三極管、MOSFET、IGBT等半導體分立器件的柵電阻Rg、輸入電容Ciss、輸出電容Coss、反饋電容Crss.測量量程: 100 mΩ~...
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