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  光學(xué)測量系列

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孚光精儀（中國）有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：1482條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：陳小姐（銷售）

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場發(fā)射掃描電鏡

詳細(xì)摘要：場發(fā)射掃描電鏡semiron5000是高分辨率FE-SEM掃描電鏡,也是肖特基型高分辨率FE-SEM,采用65錐形物鏡，專為大樣本檢測而*化-無限制分析附件的短...
產(chǎn)品型號：FPSER-Semiron5000所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
高分辨率掃描電鏡

詳細(xì)摘要：高分辨率掃描電鏡AIS2500C配備了LaB6，以便獲得高分辨率掃描電鏡SEM圖像
產(chǎn)品型號：FPSER-AIS2500C所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
科研級SEM電鏡

詳細(xì)摘要：科研級SEM電鏡采用小型掃描電鏡結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，適合高校等科研院所獲得SEM圖像,放大倍率為20-30000X,可在辦公室使用
產(chǎn)品型號：FPSER-Ais2000C所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
科研級掃描電鏡

詳細(xì)摘要：科研級掃描電鏡采用小型SEM結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，適合高校等科研院所SEM圖像采集,放大倍率為20-20000X,可在辦公室使用
產(chǎn)品型號：FPSER-Ais1800c所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
桌面型掃描電鏡

詳細(xì)摘要：桌面型掃描電鏡是結(jié)構(gòu)緊湊的微型SEM,桌面型的掃描電鏡結(jié)構(gòu)使得它非常適合各種SEM圖像獲取應(yīng)用
產(chǎn)品型號：FPSER-AURA200所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
平面度和應(yīng)力測試儀

詳細(xì)摘要：平面度和應(yīng)力測試儀可非接觸式測量各種反射硅片和玻璃表面平面度、波紋度和薄膜應(yīng)力,廣泛用于晶圓硅片、反射鏡、金屬表面或拋光聚合物
產(chǎn)品型號：FPOEG-Flatscan所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
晶圓金剛石劃片機(jī)

詳細(xì)摘要：晶圓金剛石劃片機(jī)MR200為結(jié)構(gòu)化硅片的限定切割和高精度劃線而設(shè)計(jì),特別適合半導(dǎo)體行業(yè)中的REM制備,還適用于實(shí)驗(yàn)室對芯片單體化劃片或切割
產(chǎn)品型號：FPOEG-MR200所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
電子自準(zhǔn)直儀

詳細(xì)摘要：電子自準(zhǔn)直儀是電子準(zhǔn)直的自動準(zhǔn)直儀器,具有電控內(nèi)焦功能.電子自準(zhǔn)直儀EFAM是具有電動內(nèi)部聚焦功能的準(zhǔn)直自準(zhǔn)直儀,使用相機(jī)和圖像處理系統(tǒng)來記錄測量值
產(chǎn)品型號：FPOEG-EFAM所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
紅外自準(zhǔn)直儀

詳細(xì)摘要：紅外自準(zhǔn)直儀是專門為1550nm波長設(shè)計(jì)的電子紅外自動準(zhǔn)直儀器,具有電子圖像評估功能和1弧秒的精度
產(chǎn)品型號：FPOEG-EAC500所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
光學(xué)鏡頭測量儀

詳細(xì)摘要：光學(xué)鏡頭測量儀是為光學(xué)鏡頭和光學(xué)模組分析測試設(shè)計(jì)的光學(xué)鏡頭分析測試儀器,滿足鏡頭經(jīng)典光學(xué)參數(shù)的測量系統(tǒng),如EFL（焦距）（正/負(fù)）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...
產(chǎn)品型號：FPOEG-OTS200所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀

詳細(xì)摘要：顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀MTFMicro是為極短焦距的微光學(xué)元件設(shè)計(jì)的光學(xué)傳遞函數(shù)測試儀器,它在5個像場點(diǎn)和焦點(diǎn)測量MTF切向和矢狀
產(chǎn)品型號：FPOEG-MTFmicro所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀

詳細(xì)摘要：高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀是六軸電動MTF測試儀器,軟件控制MTF測試分析,滿足有限/有限對象/圖像共軛光學(xué)測量應(yīng)用
產(chǎn)品型號：FPOEG-Master2000所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
12英寸晶圓輪廓儀

詳細(xì)摘要： 12英寸晶圓輪廓儀是為半導(dǎo)體晶圓形貌測量設(shè)計(jì)的多功能晶圓形貌儀器，集成光學(xué)傳感器,實(shí)現(xiàn)無接觸地測量樣本
產(chǎn)品型號：FPALT-altisurf530所在地：更新時間：2024-05-03 在線留言
三維表面輪廓儀

詳細(xì)摘要：這款三維表面輪廓儀是進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學(xué)輪廓儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對2D輪廓或三維輪廓表面...
產(chǎn)品型號：FPALT-altisurf520所在地：更新時間：2024-05-03 在線留言
三維表面形貌儀

詳細(xì)摘要：三維表面形貌儀是進(jìn)口多功能光學(xué)形貌儀，集成光學(xué)傳感器,實(shí)現(xiàn)無接觸地測量樣本
產(chǎn)品型號：FPALT-altisurf500所在地：更新時間：2024-05-03 在線留言
便攜式光學(xué)輪廓儀

詳細(xì)摘要：便攜式光學(xué)輪廓儀集成光學(xué)傳感器,可在任何地方無接觸地測量樣本
產(chǎn)品型號：FPALT-altisurf50所在地：更新時間：2024-05-03 在線留言
微型臺式掃描電鏡

詳細(xì)摘要：微型臺式掃描電鏡是結(jié)構(gòu)緊湊的科研SEM,桌面型的掃描電鏡購置使得它非常適合各種SEM圖像獲取應(yīng)用
產(chǎn)品型號：FPSER-AURA100所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
電鏡原位等離子體清潔器

詳細(xì)摘要：電鏡原位等離子體清潔器EM-KLEEN可用于電子顯微鏡和分析儀器（如SEM、FIB、TEM、XPS和SIMS）的樣品和真空室的原位清潔
產(chǎn)品型號：FPPIE-EM-KLEEN所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
四探針方塊電阻測量儀

詳細(xì)摘要：四探針方塊電阻測量儀是為SheetResistivity薄層電阻率測量設(shè)計(jì)的四點(diǎn)探針電阻測量儀器,滿足各種材料的薄層電阻率測量,包括IV族半導(dǎo)體、金屬和化合物半...
產(chǎn)品型號：FPTOH-4PP所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
薄膜測厚儀

詳細(xì)摘要：薄膜測厚儀TohoSpec3100是高精度薄膜厚度測量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計(jì)獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物、...
產(chǎn)品型號：FPTOH-TOHOSPEC3100所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言