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  光學(xué)測(cè)量系列

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孚光精儀（中國(guó)）有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：1482條

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聯(lián)系人：陳小姐（銷售）

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薄膜厚度繪圖儀

詳細(xì)摘要：這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對(duì)整個(gè)面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SRM300所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
光學(xué)薄膜測(cè)厚儀

詳細(xì)摘要：這款光學(xué)薄膜測(cè)厚儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測(cè)量薄膜反射光譜進(jìn)測(cè)量薄膜厚度和測(cè)量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：FRANG-SR100所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
鏡片透光率測(cè)試儀

詳細(xì)摘要：鏡片透光率測(cè)試儀是一款眼鏡鏡片透光率測(cè)量?jī)x器,廣泛用于薄膜透光率測(cè)試,比如LED擴(kuò)散板透光率測(cè)試,鏡頭透光率測(cè)試,玻璃透過率測(cè)試,隔熱紙材料透過率測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào)：FPASP-TSM-01所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
薄膜溶解測(cè)厚儀

詳細(xì)摘要：這款薄膜溶解測(cè)厚儀用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)薄膜在液體中薄膜厚度變化和光學(xué)常量（n,k)變化，的薄膜溶解測(cè)量?jī)x和薄膜溶解測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：FPTHE-FR-liquid所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
便攜式薄膜測(cè)厚儀

詳細(xì)摘要：這款便攜式薄膜測(cè)厚儀便攜式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測(cè)量,薄膜吸收率測(cè)量,薄膜透過率測(cè)量,薄膜反射率測(cè)量,薄膜熒光測(cè)量等
產(chǎn)品型號(hào)：FPTHE-FR-pOrtable所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
聚合物薄膜測(cè)厚儀

詳細(xì)摘要：這款聚合物薄膜測(cè)厚儀用于測(cè)量polymerfilms(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和photoresistfilms（光致抗蝕劑薄膜,光刻膠膜,光刻薄膜,...
產(chǎn)品型號(hào)：FPTHE-FR-Thermal所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
全自動(dòng)四探針電阻率計(jì)

詳細(xì)摘要：這款晶圓自動(dòng)四探針電阻率計(jì)是四點(diǎn)探針型的半導(dǎo)體晶圓和電阻薄膜的電阻率特性測(cè)量?jī)x器，它采用微處理器電路直接計(jì)算出V/I數(shù)值，表面電阻率,薄片電阻率,晶片電阻率,金...
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIL-FPP-5000所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x

詳細(xì)摘要：這款玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x是大尺寸玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x和玻璃彎曲度測(cè)試儀,廣泛用于翹曲度測(cè)量,彎曲度測(cè)量,表面形貌測(cè)量和鍍膜測(cè)量等
產(chǎn)品型號(hào)：FPZEB-P-1E所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
硅片厚度測(cè)量?jī)x

詳細(xì)摘要：該硅片TTV厚度測(cè)試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測(cè)量?jī)x，能夠精確測(cè)量硅片厚度和測(cè)量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測(cè)量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測(cè)試...
產(chǎn)品型號(hào)：FPZEB-P-1D所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
磁場(chǎng)消除系統(tǒng)

詳細(xì)摘要：這款磁場(chǎng)消除系統(tǒng)專業(yè)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場(chǎng)噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像...
產(chǎn)品型號(hào)：FPSTEF-MR-3所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
磁場(chǎng)屏蔽消磁儀

詳細(xì)摘要：這款磁場(chǎng)屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場(chǎng)消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當(dāng)磁場(chǎng)傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用
產(chǎn)品型號(hào)：FPSTEF-MK-1所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
三維臺(tái)階儀

詳細(xì)摘要：這款三維臺(tái)階儀是德國(guó)進(jìn)口的高精度光學(xué)臺(tái)階儀器,也是一款光學(xué)表面臺(tái)階儀適合臺(tái)階高度測(cè)量,具有較低的進(jìn)口臺(tái)階儀品牌臺(tái)階儀價(jià)格,適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析,以標(biāo)...
產(chǎn)品型號(hào)：FPTTZ-STEP-profiler所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
納米干涉形貌儀

詳細(xì)摘要：納米干涉形貌儀nanoprofilometer是采用微納干涉顯微鏡部分相干光的干涉技術(shù)制造的納米輪廓儀和納米形貌儀,可定量測(cè)量微米尺度和納米尺度表面形貌輪廓,并...
產(chǎn)品型號(hào)：FPOST-IMOS所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡

詳細(xì)摘要：近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡NSOM采用SNOM技術(shù)幫助用戶獲得的光學(xué)空間分辨率,具有原子力顯微鏡模式和光子計(jì)數(shù)模式的熒光和光學(xué)圖像
產(chǎn)品型號(hào)：FPDEL-nsom所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺(tái)

詳細(xì)摘要：范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺(tái)VANDERWAALS是為半導(dǎo)體芯片不同材料在精確位置的堆積過程研究設(shè)計(jì)的范德瓦爾斯位移臺(tái)
產(chǎn)品型號(hào)：FPCRE-van-der所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
手動(dòng)探針臺(tái)

詳細(xì)摘要：一.4英寸手動(dòng)探針臺(tái)BU-4這款手動(dòng)探針臺(tái)BU-4提供4樣品真空卡盤和4x4滾珠軸承螺桿位移臺(tái),帶有精確theta角控制,磁性不銹鋼頂部壓板平臺(tái)帶有升降功能
產(chǎn)品型號(hào)：FPCRE-BU所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng)

詳細(xì)摘要：這款主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng)是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場(chǎng)干擾而設(shè)計(jì)的主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽和主動(dòng)消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場(chǎng)干擾影響的環(huán)境.主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系...
產(chǎn)品型號(hào)：FPMD-ECS所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
量子效率測(cè)量系統(tǒng)

詳細(xì)摘要：量子效率測(cè)量系統(tǒng)是為晶體硅太陽能電池IQE內(nèi)量子效率測(cè)量分析設(shè)計(jì)的內(nèi)外量子效率測(cè)試測(cè)量系統(tǒng),也可以測(cè)量EQE外量子效率和光譜反射
產(chǎn)品型號(hào)：FPPVT-IQE-SCAN所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
C-V/I-V特性測(cè)試儀

詳細(xì)摘要： C-V/I-V特性測(cè)試儀是為半導(dǎo)體C-V特性分析測(cè)試和I-V特性測(cè)試分析設(shè)計(jì)的C-V/I-V測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：FPMDC-C-V所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言
低溫探針臺(tái)系統(tǒng)

詳細(xì)摘要：這款低溫探針臺(tái)系統(tǒng)提供近液氮溫度77K情況下電子安靜的高靈敏度電容和電流測(cè)量功能，它采用電子防護(hù)罩確保電子安靜且控制環(huán)境操作
產(chǎn)品型號(hào)：FPMDC-411所在地：更新時(shí)間：2021-08-17 在線留言